网络分析仪
介电常数测试仪及介质损耗测试仪
一、满足标准：
GBT 1409-2006测量电气绝¤缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法
GB/T1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法
ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介〖质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法
二、方法概述
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种︾因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量○程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数〗字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改『进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至zui低，并ㄨ保留了原Q表ξ中自动稳幅等技术，使◥得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高々的测试频率条件下，测量高频电∮感或谐振回路的Q值，电感〓器的电感量和分布电容量，电容♀器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。
三、主要用途:
主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）
四、应用对象:
该仪器用于科研机关、学校、工︽厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。
五、技术指标:
功能名称： | GCSTD-A | GCSTD-AI | GCSTD-B |
信◥号源范围DDS数☉字合成信号 | 10KHZ-70MHz | 10KHZ-110MHz | 10KHZ-160MHz |
信□号源频率覆盖比 | 7000:1 | 11000:1 | 16000:1 |
信号源频率精度6位有效数 | 3×10-5 ±1个字 | 3×10-5 ±1个字 | 3×10-5 ±1个字 |
Q测量范围 | 1-1000自动/手动量程 | 1-1000自动/手动量程 | 1-1000自动/手动量程 |
Q分辨率 | 4位有效数,分辨率0.1 | 4位有效数,分辨率0.1 | 4位有效数,分辨率0.1 |
Q测量工作误差 | <5% | <5% | <5% |
电感测量范围4位有效数,分辨率0.1nH | 1nH-8.4H , 分辨率0.1nH | 1nH-8.4H 分辨率0.1nH | 1nH-140mH分辨率0.1nH |
电感测量误差 | <5% | <5% | <5% |
调谐电容 | 主电容30-540pF | 主电容30-540pF | 主电容17-240pF |
电容直接测量范围 | 1pF～2.5uF | 1pF～2.5uF | 1pF～25nF |
调谐电容误差 分辨率 | ±1 pF或<1% 0.1pF | ±1 pF或<1% 0.1pF | ±1 pF或<1% 0.1pF |
谐振点搜索 | 自动扫描 | 自动扫描 | 自动扫描 |
Q合格预置范围 | 5-1000声光提示 | 5-1000声光提示 | 5-1000声光提示 |
Q量程切换 | 自动/手动 | 自动/手动 | 自动/手动 |
LCD显示参数 | F，L，C，Q，Lt，Ct波段等 | F，L，C，Q，Lt，Ct波段等 | F，L，C，Q，Lt，Ct波段等 |
自身残余电感和测试引线电感的自动扣◤除功能(独创) | 有 | 有 | 有 |
大电容值直接测量显示功能(独创) | 测∩量值可达2.5uF | 测╳量值可达2.5uF | 测□量值可达25nF |
介质损耗系※数 | 精度 万分之五 | 精度 万分之五 | 精度 万分之五 |
备注说明:
三种不同型号的∮仪器,主要区别是频率不同,根据自己测试频率,选择合适的型号
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六、电极规格
固体：材料测量直径╲Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm
液体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）
粉体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）
试样要求：固体样ㄨ品厚度要求：0.5-15MM
七、产品配置：
1、测试主机：一台
2、测试电感：9个
3、测试夹具：1套（标配固体测试夹具一套）
八、其它规格：
1、环境温度：0℃～+40℃；
2、相对湿度：<80％；
3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
4、消耗功率：约25W；
5、净重：约7kg；
6、外型尺寸：（长宽高）：380×280×132（mm）
九：9个电感规格：
电感No | 电感量 | 准确度% | Q值≥ | 分布电容约略值 | 谐振频率范围 MHz | 适合介电常数测试频率 | |
GCSTD/A/AI | GCSTD-B | ||||||
1 | 0.1μH | ±0.05μH | 200 | 5pF | 20~70 | 31~103 | 50MHz |
2 | 0.5μH | ±0.05μH | 200 | 5pF | 10~37 | 14.8~46.6 | 15MHz |
3 | 2.5μH | ±5% | 200 | 5pF | 4.6~17.4 | 6.8~21.4 | 10MHz |
4 | 10μH | ±5% | 200 | 6pF | 2.3~8.6 | 3.4~10.55 | 5MHz |
5 | 50μH | ±5% | 200 | 6pF | 1~3.75 | 1.5~4.55 | 1.5MHz |
6 | 100μH | ±5% | 200 | 6pF | 0.75~2.64 | 1.06~3.20 | 1MHz |
7 | 1mH | ±5% | 150 | 8pF | 0.23~0.84 | 0.34~1.02 | 0.5MHz |
8 | 5mH | ±5% | 130 | 8pF | 0.1~0.33 | 0.148~0.39 | 0.25MHz |
9 | 10mH | ±5% | 90 | 8pF | 0.072~0.26 | 0.107~0.32 | 0.1MHz |
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8.3精度要求
在第5章和附录A中所规定的精度是：电容率精度为±1%，介质损耗因数的精度为±（5%±0.0005）。这些精度至少取决于三个因素：即电容和介》质损耗因数的实测精度№；所用电极装↓置引起的这些量的校正精度；极间法向真空电容的计算精度（见表1）。
在较低频→率下，电容的测量精☆度能达±（0.1%土0.02pF），介质损耗因数的测量精度能达±（2%±0.00005）。在较高频率下，其误差增大，电容的测量精度为±（0.5%±0，1PF），介质损耗因数的测量精度为±（2%±0.0002）。
对于带有保护电极的试样，其测量精度只考虑极间卐法向真空电容时有计算误差。但由被保护电极和保护电极之间的间隙太宽而↓引起的误差通常大到百分之零点几，而校正只能№计算到其本身值的百分▅乏几。如果试样厚度的测量能精确到』±0.005mm，则对平均厚度为1.6mm的试样，其厚度测量误差能达到百分之零点几。圆形试样的直径能测定到±0.1%的精度，但它是以平方的形式引人误差的，综合这些因素，极间法向真空电容的测量误差为±0.5%。
对表面加有电极的试样的电容，若采用测微计电极测量时，只要试样直径比测微计电极足ζ够小，则只需要进行极间法↑向电容的修正。采用其他的一些方法来测量两⌒ 电极试样时，边缘电容和对地电容的计算将带来一些误差，因为它们的『误差都可达到试样电容的2%?40%。根据目前有关这些电容资料∑，计算边→缘电容的误差为10%，计算对地电容的误差为因此带来总的误差是百分之几十到百分之几。当电极不接地时，对地电容误差可大大减小。
采用测微计电极时，数量级是0.03的介质损『耗因数可测到真值的±0.0003，数量级0.0002的介质损耗因¤数可测到真值的±0.00005介质损耗因数的范围通常是0.0001?0.1，但也可扩展到⌒ 0.1以上。频率在10MHz和20MHz之间时，有可能检测△出0.00002的介质损耗因数。1?5的相对电〓容率可测到其真值的±2%，该精度不仅受到计算极间法向真空电容测量精度的限制，也受到测微计电极系统误差的限制。
绝缘纸介电常数介质损耗测试仪9、试验报告
试验报告中应给出下列相关内容：
绝缘材料的型号名称及种类、供货形式、取样方法、试样的形状及尺∏寸和取样日期（并注明试样厚度和试样在与电极接触的表面进行●处理的情况）；
试样条件◥处理的方法和处理时间；
电极装≡置类型，若有加在试样上的电¤极应注明其类型；
测量仪器；
试验时的温度和相对湿度以及试样的温度；
施加的●电压；
施加的频率；
相对电容率εr（平均值）；
介质损耗因数tanδ（平均值）；
试验日期；
相对电容率和介质损耗因数值以及由它们计算得到的值如损耗指数和损耗角，必要时，应给出与温度和频率的关系。
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高温介电测量系统用于高温下材料的介电◤性能测量与分析，包括介电ㄨ常数、介质损耗、电容等々参数。系统软件也可以测量其它阻抗参□数。
系统使用◥平行电极方法测量介电参数，zui多可以同时测量四个样品，应用于绝缘材料产品的开发与检测，评估产品介电性能与温度的关系。
高温四探针测⊙量系统;高温绝缘电阻测量系统 ,多工位玻璃试管旋转密封系统 ,气敏电阻测量系统, 多路油浴极化装置
