精密介电常数测试仪
高低频介电常△数测试仪
GCSTD-D
一、满足标准：
GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法
GB/T1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法
ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法
二、试验方法：
接触法：适用于厚度均匀、上下表面平整、光滑材料
非接触法：适用于上下表面不平整、不光滑材料
电极类型：固定电极-测量电极φ38mm/φ50mm(标配电极1套，标配为38mm)
液体电极-液体容量15ml
粉体电极-根据样品量可配专用电极
精密介电常数测试仪
试样类型：固体、液体、粉体、膏体/规则物或者不规则物
三、性能特点
■ 测试频率20Hz～2MHz，10mHz步进 ■ 测试电平10mV～5V, 1mV步进 ■ 基∞本准确度0.1%■ zui高达200次/s的测量速度 ■ 320×240点阵大型图形LCD显示 ■ 五位读数分辨率■ 可测量22种︼阻抗参数组合■ 四种信号源输出阻抗■ 10点列表扫描测试╳功能 ■ 内部自带直流偏置源■ 外置偏流源至40A(配置两台TH1776)(选件)■ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能 ■ V、I测试★信号电平监视功能 ■ 图形扫描分析ξ功能■ 20组内部仪器设定可供储存/读取 ■ 内建比较器,10档分选及计数功能 ■ 多种◆通讯接口方便用户联机使用■ 2m/4m测试电缆扩展(选件)■ 中英文可选操作界面■ 可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序
四、简要介绍
测试材料：
无源元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的∩阻抗参数评估和性能分析。
半导体♀元件：变容二极管的C-VDC特性；晶体管或集成电路的寄生参数分析
其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估
介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
半导体材▅料：半︾导体材料的介电常数、导电率和C-V特性
液晶材料：液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性
五、随机配置
1、主机：1台
2、测试电极：1套
3、数据线：1套
4、电源线：1根
5、合格证：一份
6、测试系统：一套
精密介电常数测试仪
六、技术参数
测试参数 | C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR | |
测试频率 | 20 Hz～2MHz,10mHz步进 | |
测试信号电 | f≤1MHz | 10mV～5V,±（10%+10mV） |
平 | f>1MHz | 10mV～1V,±（20%+10mV) |
输出阻抗 | 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω | |
基本准确度 | 0.1% | |
L | 0.0001 uH ～ 9.9999kH | |
C | 0.0001 pF ～ 9.9999F | |
R,X,Z,DCR | 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ | |
显示范围 | Y, B, G | 0.0001 nS ～ 99.999 S |
D | 0.0001 ～ 9.9999 | |
Q | 0.0001 ～ 99999 | |
θ | -179.99°～ 179.99° | |
测量速度 | 快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz） 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s | |
校准功能 | 开路 / 短路点频、扫频清零，负载校准 | |
等效方式 | 串联方式, 并联方式 | |
量程方式 | 自动, 保持 | |
显示方式 | 直读, Δ, Δ% | |
触发方式 | 内部, 手动, 外部, 总线 | |
内部直流偏 | 电压模式 | -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进 |
置源 | 电流模式（内阻为50Ω） | -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进 |
比较器功能 | 10档分选及计数功能 | |
显示器 | 320×240点阵图形LCD显示 | |
存储器 | 可保存20组仪器设定值 | |
USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) | ||
USB HOST(FAT16 and FAT32 support) | ||
接口 | LAN(LXI class C support) | |
RS232C | ||
HANDLER | ||
GPIB（选件） | ||
应用范围：
无源元器件：电容器、电感器、铁氧体磁珠、电阻器、变压器或晶体/陶瓷谐振器的阻抗测量。
半导体元器件：变容二极管的 C-V 特征分析。二极管、晶体管、放大器或 MEMS 的阻抗测量。
高〓温介电温谱测量系统是为了满足材料在高温环境下的介电性能测量需求而设计的。它由硬件设备和测量软件组成，包括高∑ 温测试平台、高温测试夹具、阻抗分析仪和高温介电温谱测量系统软件四个组成部分。
国际标准测试→，数据更加可靠
高温介电测试夹具根据国际标准ASTM D150方法，采用平行板电极原理设计。电极由上电极∑、下电极以及保护电极组成。上下电极具有良好的】同心度和平行度，保护电极可减少周围空气电容的影响，使得测试数据更加准确可靠。
阻抗分析仪集成度高，可定制开发
高温阻抗、介电测量系统软件将高温测试平台、高温测试夹具测量设备无缝连接,实现了自动完成高温环境下的阻抗、介电参数的测量与分析。
其他元器件Ψ：印刷电路板元器件的阻抗测量。
介电材料：塑料、陶瓷和印刷电路板的介电常数和损耗因数测试。
磁性材料：铁氧体、非晶体的导磁率和损←耗因数测试。
图谱数据一次测量，同时输出
手持式频谱分析仪专为满足现场作业而设计。它轻◥巧便携，快速精确，坚固耐用，具有丰富的测量功能，是追求优异性能和卓越价值的zui佳选择。
高温测试平台是为样品提供一个高温环境;高温测试夹具提供待测试样品的测试平台;阻抗分析仪则负责测试各组参数数据。
射频阻抗/材料分析提供极限阻抗测量性能和功能强大的内置分析功能。它将为元器件和电路设计人员测【量 3 GHz 以内的元器件提供创新功能，帮助他们进行研发工作。
再通过测量软件将这些硬件设备的功能整合在一起，形成一套由实验方案设计到温度控制、参数测量、图形数据显示与数据分析于一体的高温介电测量系统。
软件可根据实验方案设计，通过测量C和D值，自动完成介电常数和介电损耗随频率、电压、偏压、温度、时间多维变化的曲线。一次测量，同时输出，测量效率高、数据丰富多样。
与反射〒测量技术不同，E4991A 使用射频电流–电压（RF-IV）技术，可在广泛的阻抗范围内提供更精确的阻抗测○量结果。基本阻抗精度是︻ +/-0.8%。高 Q 精度有利于进行低功耗元器件分析。内置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的扫描范围和1 mHz的分辨率。
数据库↓存档，数据分析更gao效,软件自带数据库存储系统，数据可保存至系统数据库，可供历史数据查询与分析。另外，还支持Excel、txt文件格☆式导出保存。
精密介电常数测试仪
