四探针半导体粉末电阻率测试仪
粉末电阻率测试仪（四探针法）
产品名称：粉末电阻率试验仪（四探针法）
产品型号：GEST-124
参考标准：YS T 587.6-2006 炭阳极用煅后石油焦检测方法第6 部分：粉末电阻率的测定.pdf
GB/T 24525-2009 炭素材料电阻率测定方法
GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》中关于粉末电导率的测定方法中用于仲裁方法的四探针法要求制作
产品概述：
粉末电阻率试验仪主要用于测量粉末材料电阻率试验的专用仪器.
由于粉末材料的密实度不同,在松装和振实密度◥条件下,所测试得到的数据是不同的,所以测试粉末电
阻,要求在规定的压力条件下进行测试.便于○进行有效数据的测试及对比.
仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量
试验设置通过触摸屏进行操作和设置，页面布◎局合理，人性化设计，可对测试结果进行打印。
仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等□特点，完全符合国际和guo家标准的要求。
仪器适用于导体粉末、半导体粉末、炭素材料等行业，进行检测必备测试设备。
仪器主要技术指标：
一、 测量范围：
测量半导电电阻率时：电阻率10-5--105Ω-cm；分辩率10-6Ω-cm
测量其他（电线电缆）电阻时：电阻10-4--2X105Ω，分辨率1uΩ
二、电压测量：
1．量程2 mV、20 mV、200 mV、2V
2．测量误差2mA档±(0.5%读数+8字)；20mV—2V挡±(0.5%读数+2字)
3．显示4 1/2 位数字显示0—19999具有极性和ㄨ过载自动显示，小数点、单位自∩动显示。
四探针半导体粉末电阻率测试仪
11、试验程序
试样按本标准第7章、第8章、第9章、第 10 章进行准备。
测量试样及电极的尺寸、表面间隙的宽度g（两电极之间距离），精确}lj士1%。然而，如有必要，对薄试样可在有关的规范中规定不同的精确度。
为测定体积电阻率◥，应按照有关的规范测量每个试样的平均厚度，其厚度测量点应均匀地分布在由被保护电极所◣覆盖的整个面积上。
注：对于薄试样无◣论如何在加上电极前测量厚度。
一般说来，应与条件处理时相同的湿度（漫在液体中的条件处理除外）和温度下测试电阻。但有时也可在停止条件处理后的规定时间内进行测量。
四探针电阻率测试仪测试范围
ASTM D257-2014
绝缘材料直流电阻或电导的标准试验方法
Standard Test Methods for DC Resistance or Conductance of Insulating Materials
绝缘材料直流电阻或电导的标准试验方法1
本标准是以固定代号D257发布的。其后的数字表示原文本◣正式通过的年号；在有修订的情况下，为上一次的修订年号；圆括号中数字为上一次重新确认的年号。上标符号（ε）表示╳对上次修改或重新确定的版本有编辑上的修改。
本标准经批准用于国防部所有机构。
四探针半导体粉末电阻率测试仪
三、恒流源：
1．电流输出：1μA 、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA．
2. 电流误差：±(0.5%读数+2字)
四、测量电极：
1、电极材质：铜
2、探针间距：1MM
五、粉末套筒：
1、内径：16mm
2、行程：50 mm
六、加载装置：
1、加载方式：手动加载
2、加载机构：杠杆液压加载
3、传感器量程：10KN
四探针半导体粉末电阻率测试仪
产品特点
7寸800*480 彩色触摸屏显示。
智能系统自检测功能： 让用户随时掌握设备的基本精确度。
高精度，高稳定度的测试结果：承诺精度0.15%， 实际精度，大部分档位↘出厂<0.08%。
测试式样编号功能： 用户可以输入测试式样的编号，或者有系统自动加1 。方便用户将式样分类。方便将来查询。
式样参数输入：可以输入测试试样的直径，测试粉末容器的电压测试距离并有系统自动保存。
试样截〇面积自动显示。
测试过程简单方便。测试材料参数，正向电压， 反向电压，电阻率结果同屏显示，一目了然。
机箱内温度自动检测， 自动启动降温系统。
内置实时时钟为系统记录测试时间提供数据。
测试结果自动记录：试样编号，电阻率，测试时间。
本机可以记录，查询，删除以往测试记录。
可以通过随机的计算机软件上传测试记录到计算机，并可以导出成excel格式数据文件， 供用户归档，编辑，打印。
由测试电阻率系统与高温试验箱结合配置专用的高温测试探针治具，满足绝缘材料在高温状态下，因温度变化对电阻值变化之表面和体积电阻率测量要求，通过先进的测控软件可以显示出温度与电阻，电阻率，数据的变化曲线，是检验和分析材料质量的一种重要的工具。
