焦粒电阻率测定仪
导体粉末电阻率测试仪
产品名称：导体●粉末电阻率试验仪
产品型号：GEST-126
参考标准：YS T 587.6-2006 炭阳极用煅后石油焦检测方法第6 部分：粉末电阻率的测定.pdf
GB/T 24525-2009 炭素材料电阻率测定方法
产品概述：
粉末电阻率试验仪主要用于测量粉末材料电阻率试验的专用仪器.
由于粉末材料的密实度不同,在松装和振实密度条件下,所测试得到的数据是不同的,所以测试粉末电
阻,要求在规定的压力条件下ξ进行测试.便』于进行有效数据的测试及对比.
仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流√源测量
试验设置通过触摸屏进行操作和设置，页面布局合理，人〓性化设计，可对测试结果进行打印。
仪器具有测量精㊣ 度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点，完全符合国际和guo家标准●的要求。
仪器适用于导体︽粉末、半导体粉末、炭素材料等ξ 行业，进行检测必备测试设备。
仪器主要技术指标：
一、 测量范围：
测量半导电电阻率时：电阻率10-6—105Ω-cm；分辩率10-8Ω-cm
测量其他（电线电缆）电阻时：电阻10-4--2X105Ω，分辨率0.01uΩ
焦粒电阻率测定仪
参数资料
1.方块电阻范围：10-5～2×105Ω/□
2.电阻率范围：10-6～2×106Ω-cm
3.测试电〓流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA
4.电流精度：±0.1%读数
5.电阻精度：≤0.3%
6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率
7.测试方式: 普通单电测量
8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<30W
9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）
10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线々形探头； 选购4.测试平台
11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨针;白钢针；镀金磷铜半球形针
四探「针电阻率测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，可以测︽量硅、锗单晶电阻率和硅外延层、扩散层和离子∞注入层的方块电阻以及测量导电玻璃和其他导电薄膜的方块电阻，主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能。广泛用于◣半导体厂家、太阳能行①业，还能满足科研单位的ぷ精密研究。
电阻率是反映︼半导体材料导电性能的重要参数之一。测☆量电阻率的方法很多，四探针法是一种广泛采用的标准方法。它的优点是设备简单、操作方便，精确度高，对☉样品的形状无严格要求。
z常用的是直线型四探针。四根探针的针尖在同一直线上，并且间距相等↑，都是S，一般采用0.5mm的间距，不同的探针间距需要对测量结果做相应的校正》。
焦粒电阻率测定仪
二、电压测量：
1．量程2 mV、20 mV、200 mV、2V
2．测量误差2mA档±(0.5%读数+8字)；20mV—2V挡±(0.5%读数+2字)
3．显示4 1/2 位数字显◥示0—19999具有极性和过载自动显示，小数点、单位自动∩显示。
三、恒流源：
1．电流输出：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA、0.5A、1A、10A
2. 电流误差：±(0.5%读数+2字)
四、数据打印：
可对测试结果进行打印，显示结果为：体积电阻率、电阻值
五、测量电极：
1、电极材质：铜
2、测量距离：10MM
六、粉末套筒：
1、内径：16mm
2、行程：50 mm
七、粉末测试专用恒加载装置及测试电极：
电极是双柱型、立式结构
加载机构：步进电极
加载方式：自动加载
负※荷传感器：10KN
负荷显示方式：力值、压强
负荷加载:设定好指定的负荷后,自动加载并恒≡负荷保持
试验流程：把被测试样安装并固定好后，设定好要加＠ 载的负荷和保持时间，点击开始后№，自动加载，到达设定的负荷后自动停止，到达设定的时↘间后，自动返回初始位。
样品量和电☆极尺寸，依据客户要求协商确定。
套筒内经:16MM/30MM
焦粒电阻率测定仪
四探针电阻♀率测试仪测试四探针笔方法：
一般情卐况下，更换钢针之类，不需要拆开探头，只需要用拔出要更换的钢针，再重新》安装新针，如果断针在孔内并且╲不拆开难以取出，必须按照◆以下步骤进行操作：
1、先松开笔身尾部端侧面的固定小螺丝，轻轻脱下尾部航空插→口，保证探针头部旋转时同步旋转，防止扭线①断线，短接;
2、轻轻拧开探针头子，然后小心将铜∑ 片拉出，记住七片绝缘片与铜片之间的位置，(四片铜片每片间夹一片绝缘片，两边的铜片外↙侧各两片)，将断针从铜片卡口座里取下即可;
3、特别注意一定不能将铜片取下时︻的位置错乱，铜片位置按照航空头四芯1234接线绿红★黄黑的顺序一字排列，并且铜片之间按照宽ω 窄顺序互相交叉排列，以免短接;
4、安装时铜片及绝缘片按照拆下时的排列轻★轻塞进探针头子，并先将探针头子拧紧，再将尾部航空头插上，并且旋紧小螺丝;
5、将针装好，注意针⌒头针尾方向，尖头为探针头部。
数字式四』探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法guo家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计√的，专用于测试半导体材料电阻率及ζ方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。
仪器由主机、测试台、四探◎针探头、计算机等部分组成，测量数据〖既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中♂加以分析，然后∑ 以表格，图形方式统计分析显示测试结果。
仪器采用了︽guo新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快︾、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特ζ 点。
本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。
