铜线电阻率检测仪
一. 主要技术性能指标
<一>.主要技术性能指标
1. 测量范围：10-5---106Ω 分辨率 10-7Ω。
2. 恒流源（输出）：
a. 10μA, 100μA, 1mA, 10mA, 100mA, 1A, 10A。
b.电流误差：1A---10A<1% ; 100uA—100mA <0.2% ; 1μA-- 10uA <0.5%
3. 测试电极：适用于测试长条形片材试样
4. 电源：
220±10%,50HZ(60HZ)的交流电。
5. 外形尺寸：
a. 测试仪外形尺№寸(长X高X深)：400mm X350mm X 200mm
b. 测■试架外形尺寸(长X高X深)：300mm X150mm X350mm
6．显示页面简单︻明了,全触摸数据输入和数据切换显示。
7．创新的使用z新电容触摸键盘CTS技术设计，有丰富的触感和声感，操作简单，美观大方。
8．仪表采用全面板调校操作，无需打开仪表进行任何的机内调整。用户操作╳好学易记。
铜线电阻率检测仪
四探针电阻■率测试仪
产品名称：四探针电阻率测试仪
产品型号：GEST-126
产品概述
该仪器按照单晶硅物理测╱试方法guo家标准,并参○考美国 ASTM 标准而√设计的，专用♀于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。
仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算♂机中加以分析，然后以□ 表格，图形方式统计分析显示测试结果。
仪器采用□了z新电子技术进行设计、装配。具有功√能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。
本★仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试
仪器主要技术指标：
一、 测量范围：
电阻率：0.00001～20000Ω.cm(可扩展)
方块电阻：0.0001～200000Ω/(可扩展)
电导率：0.00005～10000 s/cm；
电阻：0.00001～20000Ω.cm；
二、电压测量：
1． 量程0.01mV-2000mV
2． 分辨力：10μV；
3． 输入阻抗＞1000MΩ；
4． 精度：±0.1% ；
5． 显示：触摸屏操作显示
三、恒流源：
1．电流输出：10μA, 100μA, 1mA, 10mA, 100mA, 1A,
2. 电流误差：±0.5%
3. 各『档连续可调
四、四探针测试电极※：
1.间距：1±0.01mm；2.针间绝缘电阻：≥1000MΩ； 3.机械〗游移率：≤0.3％；4.探针：碳化钨或高速钢Ф0.5mm；5.探针压力：5～16 牛顿(总力)；
五、数据打印：
可◥对测试结果进行打印，显示结果为：电压、电流、电阻、电阻率
铜线电阻率检测仪
1．电阻率ρ不仅和导体的材料有关，还和导体的温度有关。在温度变化不大的范围内〓：几乎所有金属的电阻率随温度作线性变化，即ρ=ρo(1+at)。式中t是摄氏温度，ρo是O℃时的◣电阻率，a是电阻率温度系数。
2．由于电阻率随温度改■变而改变，所以对于某些电器的电阻，必须说明它们所处的物理状态。如一个220 V -100 W电灯灯丝的电阻，通电时是484欧姆，未通电时≡只有40欧姆左右。
其中的ρ就是电阻率，L为材料的长度， S为面积。可以看出，材料的电阻大小与材料的长度成正比，即在材料和横截面积不变时，长度越长，材料电阻〓越大：而与材料横截面①积成反比，即在材料和长度不变时，横截面╳积越大，电阻越小。
1、测量模式：自动测量、手动测量
2、取值方式：自动取值、手动取值
3、显示数据：电压、电流、电阻、电阻率
4、校准模式：能够实现电压、电阻、电流自动ㄨ校准
电阻率在单位制中的单位是Ω·m，读作欧姆米，简称欧米。常用单位为“欧姆·厘米”。
ρ为电阻率——常用单位Ω·m
S为横截面积——常用单位㎡
R为电阻值——常用单位Ω
L为导线的长度——常用单位m
电阻率不仅与材料▓种类有关，而且还与温度、压力和磁场等外界因素有』关。金属材料在温度不高时，ρ与温度t(℃)的关系是ρt=ρ0(1+at)，式中ρ1与ρ0分别是t℃和0℃时的♂电阻率;α是电阻率的温度系数，与材料有关。锰铜的α约为1×10-1/℃(其数值极小)，用其制成●的电阻器的电阻值在常温范围下随温度变化极小，适合于作标准电阻㊣。
常态下（由表可知）导电性能依次是银、铜、铝，这三『种材料是z常用的，常被用来作为导线等。银的价格偏贵，因此铜用的z为广，几乎所有应◥用的导线都是铜制作的（精密仪器、特殊场合除外）。
本仪器具有精度高、显示迅速、性好稳定、读数方便， 适用于橡胶、塑料、薄膜、及粉体、液体、及固体和膏体形状的各种绝缘材料体积和表面电阻值的测定。本仪器除能测电阻外，还能直接测量微弱电流〒。
铜线电阻率检测仪
