单根软铜线的电阻率测试仪
四探针电阻率测试仪
产品名称：四探针电阻率测试仪
产品型号：GEST-126
产品概述
该仪器按照单晶硅物理测试方法guo家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。
仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示ζ测试结果。
仪器采用了zui新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。
本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试
仪器主要技术指标：
一、 测量范围：
电阻率：0.00001～20000Ω.cm(可扩展)
方块电阻：0.0001～200000Ω/(可扩展)
电导率：0.00005～10000 s/cm；
电阻：0.00001～20000Ω.cm；
二、电压测量：
1． 量程0.01mV-2000mV
2． 分辨力：10μV；
3． 输入阻抗＞1000MΩ；
4． 精度：±0.1% ；
5． 显示：触摸屏操作显示
三、恒流源：
1．电流输出：10μA, 100μA, 1mA, 10mA, 100mA, 1A,
2. 电流误差：±0.5%
3. 各档连续可调
四、四探针测试电极：
1.间距：1±0.01mm；2.针间绝缘电阻：≥1000MΩ； 3.机械游移率：≤0.3％；4.探针：碳化钨或高速钢Ф0.5mm；5.探针压力：5～16 牛顿(总力)；
五、数据打印：
可对测试结果进行打印，显示结果为：电压、电流、电阻、电阻率
单根软铜线的电阻率测试仪
试样处置
电极之间或测量电极与大地之间的杂散电流对于测试仪器的读数没有明显的影响这一点很重要。 测试时加电极到试样上和安放试样时均要极为小心，以免可能产生Ψ对测试结果有不良影响的杂散电流通道。
测量表面电阻时，不要清洗表面，除非另有协议或规定。 除了同二材料的另 一个试样的未被触模过 的表面可触及被测试样外，表面被测部分不应被任何东西触及。
10、条件处理
试样的处理条件取决于被试材料，这些条件应在材料规范中规定。
推荐按 GB/T 10580一2003 进行条件处理；由各种盐溶液所产生的相对温度在 IEC 60260 中给出。
可以采用机械蒸发系统。
体积电阻率和表面电阻率都对温度变化特别敏感。 这种变化是指数式的。 因此必须在规定的条件 下来测量试样的体积电阻和表面电阻。 由于水分被吸收到电介质内是相对缓慢的过程，因此测定温度 对体积电阻率的影响需要延长处理期。 吸收水分后通常会降低体积电阻。 有些试样可能需要处理数月 才能达到平衡。
11、试验程序
试样按本标准第7章、第8章、第9章、第 10 章进行准备。
测量试样及电极的尺寸、表面间隙的宽度g（两电极之间距离），精确}lj士1%。然而，如有必要，对薄试样可在有关的规范中规定不同的精确度。
为测定体积电阻率，应按照有关的规范测量每个试样的平均厚度，其厚度测量点应均匀地分布在由被保护电极所覆盖的整个面积上。
注：对于薄试样无论如何在加上电极前测量厚度。
一般说来，应与条件处理时相同的湿度（漫在液体中的条件处理除外）和温度下测试电阻。但有时也可在停止条件处理后的规定时间内进行测量。
单根软铜线的电阻率测试仪
额定工作电压 在允许的环境条件下，在规定的工作寿命期间，可以连续加在电容上的z大直流电压或交流电压的有效值称为电容的额定工作电压。额定工作电压是电容在规定期限内，规定条件下能够可靠工作的电压。工作条件或工作期限超过规定范围时，电容的工作电压必须随之而产生相应的变化，否则将会影响电容的工作可靠性。
橡胶、塑料、聚酯薄膜、胶片、硅胶、光伏组件、汽车零部件、复合材料、陶瓷、玻璃、云母、树脂等固体绝缘材料。配备不同电极还可测试液体、粉末材料。
GB/T 10064-2006 测定固体绝缘材料绝缘电阻的试验方法（IEC 60167:1964,IDT)
GB/T 10580-2003固体绝缘材料在试验前和试验时采用的标准条件。EC 60212:1971,IDT)
IEC 60260: 1968 非注入式恒定相对温度的试验
单根软铜线的电阻率测试仪
介电强度 电容承受一定大小的电场强度（或电压）而不致被击穿的能力称为介电强度，一般通过耐压试验加以考核。通过耐压试验，可以快速剔除存在隐患的电容，保证成品电容在使用寿命期间工作的可靠性。
绝缘材料用于将电气系统的各部件相互绝缘和对地绝缘；固体绝缘材料还起机械支撑作用。对于这些用途，一般都希望材料具有尽可能高的绝缘电阻，有均匀一致的、得到认可的机械、化学和耐热性能。表面电阻随湿度变化很快，而体积电阻随温度变化却很慢，尽管其z终的变化也许较大。
4、损耗 电场作用下单位时间内电容因发热而消耗的能量称为电容的损耗。直流电场作用下主要表现为介质的漏导损耗，交流电场作用下除漏导损耗外，还有介质的极化损耗。此外，还必须计入电容金属部分（包括接触电阻）引起的损耗。通常用损耗角正切表示电容的损耗特性。
体积电阻率能被用作选择特定用途绝缘材料的一个参数。电阻率随温度和捏度的变化而显著变 化，因此在为一些运行条件而设计时必须对其了解。体积电阻率的测量常被用于检查绝缘材料生产是否始终如一，或检测能影响材料质量而又不能用其他方法检测到的导电杂质。
5、绝缘性能 表征电容绝缘性能的参数有：绝缘电阻、时间常数和漏电流。电容上所加的直流电压与所产生的漏电流的比值称为绝缘电阻。绝缘电阻这种绝缘性指标一般适用于电容量不大于0.1uF的有机电容以及所有有机电容。时间常数是绝缘电阻与电容量的乘积，它仅取决于介质本身性质，而与电容的几何尺寸无关。时间常数一般适用于电容量大于 0.1uF的有机介质电容的绝缘性能指标。对于电解电容，由于其金属化膜介质存在很多缺陷，无法采用材料特性表征电容绝缘特性，故直接应用漏电流评价电解电容的绝缘性。
