金属材料电阻率仪
金属材料电阻率测试仪
产品名称：金属材料电阻率测试仪
产品型号：GEST-123
参考标准：
GB/T3048电线电缆电性能试验方法第2部分：金属材料电阻率试验
GB 24525-2009 炭素材料电阻率测定方法
GB-T 19289-2003 电工钢片(带)的密度、电阻率和叠装系数的测量方法
JB-T 6773-1993 金属石墨制品电阻率试验方法1
产品概述：
金属材料电阻率测试仪主要用于测量测量金属线材或其它形状金属导体电阻率的专用仪器.
仪器由主机、测试架两大部分组成。主机〒包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量
试验设置通过触摸屏进行操作和设置，页面布局合理，人〓性化设计，可对测试结果进行打印。
仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点，完全符合√国际和guo家◣标准的要求。
仪器适用于金属线材、金属板材、金属块体等不同形状导体材料进行检测必备测试设备。
仪器主要技术指标：
一、 测量范围：
测量范围：10-6---105Ω分辨率10-8Ω
二、电压测量：
1．量程2 mV、20 mV、200 mV、2V
2．测量误差2mA档±(0.5%读数+8字)；20mV—2V挡±(0.5%读数+2字)
3．显示4 1/2 位数字显示0—19999具有极性和过载自动显示，小数点、单位自动显示。
三、恒流源：
1．电流输出：10μA, 100μA, 1mA, 10mA, 100mA, 1A, 10A．
2. 电流误差：±(0.5%读数+2字)
四、测量电极：
a.电位电极：电位电■极长度≥1M。
b.电流电极：电◆流电极长度为1.5M。
五、数据打印：
可对测试结果进行打印，显示结果为：体积电阻率、质量电阻率、电阻值
金属材料电阻率仪
四探针电阻率测试仪是运◆用四探针测量原理的多用途综合测量装置，可以测量硅、锗单晶电阻率和硅外延层╳、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃和其他导电薄膜的方块电阻，主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能。广泛用于︻半导体厂家、太阳能行业，还能满足科研单位的精密研究。
电阻率是反映半导体材料导电性能的重要参数之一。测量电阻率的方法很多，四探针法是一种广泛采用的标准方法。它的优点是设备简单、操作方便，精确度高，对样品的形状无严格要求。
z常用的是直线型四探针。四根探针的针尖在同一直线上♂，并且间距相等，都是S，一般采用0.5mm的间距，不同的探针间距需要对卐测量结果做相应的校正。
四探针电阻率测试仪测试四探针笔方法：
一般情况下，更换钢针※之类，不需要拆开探头，只需要用拔出要更换的钢针，再重新安装新针，如果断针在孔内并且不拆开难以取出，必须按照以下步骤进行操作：
1、先松开笔身尾部端侧面的固定小螺丝，轻轻脱下尾部航空插口，保证探针头部旋转时同步旋转，防止扭线断线，短接;
2、轻轻拧开探针头子，然后小心将铜片拉出■，记住七片绝缘片与铜片之间的位▃置，(四片铜片每片间夹一片绝缘片，两边的铜片外侧各两片)，将断针从铜】片卡口座里取下即可;
3、特别注意一定不能将铜片取下时的位置错乱，铜片位置按照航空头四芯1234接线绿红黄黑的顺序一字排列，并且铜片之间按照宽▲窄顺序互相交叉排列，以免短接;
4、安装时铜片及绝缘片按照拆下时的排列轻轻塞进探针头子，并先将探针头▲子拧紧，再将尾部航空头插上ㄨ，并且旋紧小螺丝;
5、将针装好，注意针头针尾方向，尖头为探针头部㊣。
金属材料电阻率仪
试样的处理条件取决于被试材料，这些条件应在材料规范中规定。
推荐按 GB/T 10580一2003 进行『条件处理；由各种盐溶液所产生的相对温度〖在 IEC 60260 中给出。
石油焦按硫分的高低区分，可分为高硫焦（含硫1.5%以上）、中硫焦(含硫0.5%-1.5%)、和低硫焦(含硫0.5%以下)三种，石墨电极及◥其它人造石墨制品生产一般使「用低硫焦生产。
选择适合的石墨化送电曲线，适当提高开ξ 始功率，上升功率也不能太小。石墨化炉的送电单耗要保证制品完成石墨化所要达到的z高温度和保持时间。提高保温料的保温效果，减少炉芯温度损失。
控制电阻料，保温料的水分含←量，否则会浪费大【量电能。炉体和供电母线不能有接地现象，否则会造成电能流失。
母线短网及接点部位压降不能过大，否则电损失增加，石墨化炉电效率降低。石墨化装炉◇送电等生产操作环节要达到规范化、精细化。
石墨电极的制造工艺
炭质原料在高温下进行热□处理，排出所含的水○分和挥发份，并相应提高原料理化性能的生产工序称为煅烧。［]一般炭质原料采用燃气及自身挥发份作为热源进行煅╲烧，z高温度为1250- 1350℃。
金属材料电阻率仪
