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品　　牌：Xenocs

产品型号：Nano-inXider

制造厂商：Xenocs SAS

适用范围：高教

所在地区：

请前往赛诺普官网了解更多信息www.xenocs.cn

　　高性能

　　Nano-inxider继承了Xeuss 2.0的优点：

　　1. 独特的纯净光技术，具有无与伦比的测试性能；

　　2. 测试环※境的全真空内腔设计；

　　3. 集∴成新一代Dectris的混合像素探测器。

　　易用

　　Nano-inXider具有超大的样品腔，以方便对样品进行操作。所有样品架都配备了通用的快速接口，在样品环境变换时无需对样品位置进行调整。强大的控制软件，仅需轻点几次鼠标，即可对光路和系统设定进行快速自动调节，可确保系统永远在适合实验要求的状态下工」作。

　　紧凑的设※计

　　如同常见的电子显微镜等分析工具一样，Nano-inXider具有垂直设计的架构。垂直设计的架构集成了所有的配件，Nano-inXider成为市场上占地面积很小的X射线散射设备▂，占地面积█小于1m²。

　　Nano-inXider配备了【多种样品架，包括固体、粉末、液体、凝胶等。亦可在不同状态下进行测试，例如拉伸、温度、湿度以及▲剪切。Nano-inXider还可装配△液体样品自动进样器，来对样品进行批々量测试。

　　功能强大、易用的≡软件套装

　　Nano-inXider配备了集数据采集、数据处理和数据分析于一体的软件系统。强大的数据采ξ　集软件，只需←轻点鼠标，即可设置所有采集参数，控制多个样品的连续测试，实现设备使用更大效率。数据处理和分析软件操作简单易用，并且包含结构参数数据【库。可通过图◆形化界面快速地将Nano-inXider采集的数据转换为更强大的数据№分析软件所使用的标准文件，例如ATSAS和SASfit。

　　主要优点&特点：

　　1、直接从样品到结果

　　通过Nano-inXider智能化的设计︼，只需将您的样品放置在样品仓¤里即可。然后就能得到结果。过程非常简单快捷。

　　样品

　　操作简单。只需将您的样品放置在样品仓里即可。仪器可进行自动校准，无需用户干预。

　　测试

　　自动快捷的数据采集流√程。X射线散射数据自动归一◆化，无需用户校准。这是通过一个嵌入到全自动设备中的强大软件套件，以及独特的固定双探◢测器配置来实现的。

　　分析

　　仪器实时显示的精确散射数据可用于进行实时快速的样品反馈，或使用我们的XSACT软件进行进一╱步的辅助分析。分析■功能选择广泛，只需点击几次就能∞快速获得纳米结构参数。

　　报告

　　XSACT生成的高质量可发表的图表，可以通过拖放或保存文件轻松地导出到其他文档。

　　节约时间

　　Nano-inXider能更快获取结果更简单地进行数据分析

　　简单易用。智能化的设计可以使研究小角散射的学者，研究材料科学的科学家及技术≡人员快速掌握。

　　具有完全的远程操作能力和█自动校准，Nano-inXider将人为误差降低，并保证重现性和测量可追溯性。

　　是开放操作实验室的理想∏选择。

　　+ Nano-inXider全自动工作△流程

　　Nano-inXider数据采Ψ集软件具有以下用户友好的互动界面:

　　- 在采集过程中实时查看2D和1D数据

　　- 自动校准

　　- 可追溯测试过程

　　无需任何用户干预，自动工作流程可以进行以下↘所有数据处理

　　- 从2D图像到1D曲线的数⊙据还原

　　- 强度归←一化

　　- 自动降低宇宙背景来减少寄生散射的影响

　　+ XSACT分析软件

　　XSACT：X射线散射分析和计算工具

　　- 智能工作流〓程和用户体验

　　- 强大的数据『分析算法组成

　　- 高质量可直接发表数据图

　　2、高精度高动态范围测量

　　获取可信赖的数据，将您的注意力集中在科学和数据解释上。

　　Nano-inXider可以通过测量透过样品的强直通光和样品的低散◣射强度信号来获得高信︼噪比数据。

　　通过先」进的无beamstop数据采集进行直通光测量，自↑动处理数据并获得准确度高的强度。纯净光技术可以实现同时检测低强度信ζ号和高强度信号。

　　强度采集的高动态范围直接影响数据质量：

　　- 能够检测弱散射样品的低强度散射信号

　　- 定量获得粒子数、摩尔质量、浓度、比表面积等参数

　　- 探∞测大特征尺寸，无需用户进行数据处理

　　+ 纯净光技术适★用于高动态范围测量

　　Nano-inXider通过在先进组件和仪器设计上长达15年的研发，达到了在样☆品上高X射线通量与仪器产生的低寄生散射的平衡。

　　纯净光技术〇具有以下主要组件和特点：

　　- 微聚焦密封管』光源(30W)与单次反射多层膜聚焦镜结合

　　- 自动无散射准直技术

　　- 仪器从聚焦镜到探测器传感层全部在真空环↙境中

　　- 低噪声混合像素光子计数探测器

　　- 无窗口膜的SAXS探测器

　　+ 无beamstop采集可得到高质量数据

　　Nano-inXider无需任何beamstop就可以进行SAXS测量，还可以同时采集透过样品的直通光和非常低强度散射信▲号。

　　通过先进的无△beamstop数据采集可实现高动态范围的数据收集。

　　在整个的采集过程中记录直通光，使透射测试更准确，从而使散射强度校正更准确。

　　另外，被测量的直通光（分辨率函数）会被整合到数据分析中●来提高测量结果的质量。

　　Xenocs无beamstop数据采集实现了取决于样品的★自动qmin测量，并且消除了beamstop边缘的＠寄生散射，从而在低q区域获得高质量数据。

　　+ 降低宇宙背景

　　自动去除宇宙背景可以减少环境寄生散射的影响。

　　3、同时从原子级别〓到纳米尺寸

　　无需重复SAXS和WAXS测试，您可以在一次曝光内同时得到所有测量结果。

　　Nano-inXider独特的智ξ　能化双探测器设计，可以在一次曝光内同时检测到原子尺度信息和☉纳米结构。设备占地面积小的垂直设计，样品〓到探测器距离长，可以测量大的特征尺♀寸。

　　这些配置可以提供以下独特的优势：

　　- 您可以在一次曝光内获得纳米结构信息和原子尺度信息。无需∴重复实验。

　　- 由于在SAXS和WAXS中分析∞的是相同体积的样品，因此对于非均匀样品也能获得↘明确的数据。

　　- 在原子和纳米尺度上探测样品结构是完全同步的，这对于原位研究是必▓要的。

　　+ 双固定探测器设计便于同时进行SAXS和WAXS测量

　　Nano-inXider的样品和探测器都是固定的。可选的WAXS探测器配置扩大了散射范围，可以无缝衔接SAXS探测器，得到的数〒据达到2θ=60°。

　　这独特№的垂直设计有以下优势：

　　- 杜绝配置选错的※可能，真正的易于操作。 

　　- SAXS和WAXS数据部分重叠，获取完整q值范围内强度完美匹配的合并数据。

　　- 无需校准或调整样品到探测器距离。

　　- 同时对原子尺度和纳米尺度结构进行了探测，可以╱为原位研究提供清晰的数据。

　　+ 虚拟探测器能够增大各向异性样品或纤维的方位角覆盖

　　对于纤维或取向薄膜等各向异性样品，Nano-inXider配备一个样品旋转台可以获得各向异性散射信♂号。自动∑　采集包括以下步骤:

　　- 在连续曝光期间，样品台围绕X射线旋转

　　- 自动ω　合并获得的图像

　　- 展示高方位角的2D图谱（仪器检测的『所有q范围，即使高达2θ=60°，方位角覆盖都大于200°）

　　4、低成本

　　通过每天获得的纳米级信息，来加快您的材料加工流程或验证您的研究▲模型。

　　- 高回报

　　- 仪器的垂直设〓计减少了占用的实验室空间

　　- 方便技术人员操作

　　- 仪器的高使用率︽带来了科研成果的高产率

　　- 更环保

　　Nano-inXider低成本的特点主要得益于它的紧凑型设计和操作成本低。

　　+ 紧凑型仪︾器

　　- 占地面积 < 1×1 m2

　　- 重量 ≈ 520 kg

　　- 一体化设♀备

　　- 容易安装水平样品

　　+ 操作成本低

　　- 平均功耗低 ≈ 700 W

　　- 仪器两年质保

　　- 质保三年的免维¤护光源

　　- 简洁且坚固