一. 概述
介质损耗测试装置可与本公司生产的各型号Q表配用，对绝缘材料进行高频介电常数和介质损●耗系数（损耗角正切值）的测试。介质★损耗测试装置采用了带数显的微测量●装置，因而在测试时，读数更直观〓方便，数据更精确。
二. 工作特性
1. 平板电容器：
极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可选
极片间距可调范围：≥15mm
2. 夹【具插头间距：25mm±0.01mm
3. 夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）
4．测微杆分辨率：0.001mm
三. 工作原理
本测试装置主√要由一个数显的微测量装置和一组间距可调的平板电容器组成，平板电容器用于夹持被测材料样品。而数显的微测量装置，用于显示被测材料样品的厚度。配用Q表作为调谐指示仪器，通※过被测材料样品放进平板电容器和☉不放进材料样品时的Q值变化，可测得绝缘材料的损耗角正切值。同时，由平板电容器的刻度读值变化而换╲算可得到绝缘材料介电常数。
四. 使用方法
1. 测量装置的使用
测量装置的正面示意图如图一所示。
图一
各部件名◥称：
1） 棘轮测力（测微杆）
2） 刻线读数装置
3） 锁紧装置
4） 液晶显示屏如下图二■
|
图二
?6位数字㊣ 显示；In：英制测量模式；INC：相对测量▓模式；ABS：绝对测量模式；Set：初始值设置；
：电池电压低报警（
电池的更换见后面五注意事项
）；
：数据输出。
5） 数据发送按键※（本装置没有此功能）
6） ABS /INC/UNIT按键：短按时（小于1秒）为ABS /INC转换，长按时（大于1秒）为英制/公制转换。
7） ON/OFF/ SET按键：短按时为》开关液晶显示屏；长按时△为初始值设置。
8） 平板电容器♂极片
9） 夹具插头
2．被测样品的准备
被测样品要求为圆形，直径50.4--52mm/38.4--40mm，这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办◢法。样品厚度可在1--5mm之间，样品太薄或太厚就会使测试精度下降，样品要★尽可能平直。
下面推荐一种能提高测试精确性的方法：准备二片厚0.05mm的圆∏形锡膜，直径和平板电容器极片一致，锡膜两面均匀地涂上一层薄薄的凡士林，它起粘着作︾用，又能排除接触面之间残余空ζ气，把锡膜再粘在平板电容器两个极片上，粘好后，极片呈镜面状为佳〗，然后放上被测样品。
3. 测试准备工作
先要详细了解配用Q表的使用♂方法，操作时，要避免人体感应的影响。
a. 把配用的Q表主调谐电容置于较小电容量。
b. 把本测试装置上的夹具插头插々入到Q 表测□试回路的“电容”两个端子上【。
c. 配上和测试频率相适应的高Q值电感线圈∏（本公司 Q表配套使用的LKI-1电感组能◤满足要求），如：1MHz 时电感取250uH，15MHz时电感取1.5uH。
d. 短按ON/OFF按键，打开液晶』显示屏。
e. 调节平板电『容器测微杆，使平板电容器二极片相接为止，长按SET按键将初始■值设置为0。
4．介电常数Σ的测试
a. 再松开二极片，把被测样品夹入二极片①之间，调节平板电容㊣ 器，到二极片夹住样①品止（注意调节时要用测微杆，以免夹得过ㄨ紧或过松），这时能读取的测试︽装置液晶显示屏上的数值，既是样品的厚度D2。改变Q表上的主调电容♀容量，使Q表处于谐振点▆上。
b. 取出平板电容器中的▅样品，这时Q表又失谐，此时调节平◆板电容器，使Q表再「回到谐振点上，读取测试装置液晶显示屏上的数值记为D4
c. 计算被测样品的介电常数：
Σ＝D2 / D4
5．介质损耗系数的测试
a. 重新把测※试装置上的夹具插头插入到Q 表测试回◣路的＠ “电容”两个端上。把被测样品夹入二极片之间，调节平板电容器，到二极片夹住样品↓止，改变Q表上的主调⌒ 电容容量，使Q表处于谐振点上△，读得Q值，记为Q2。电容读数〖记为C2。
b. 取出平板电容器中的①样品，这时Q表又失谐，再改变Q表上的主调电容容→量，使Q表重新处于谐振点上。读得Q值，记为Q1。电容读数︻记为C1。
c. 然后取下测试╲装置，再改变Q表上的主调电容容々量，重新使之∑谐振，电容读数记▲为C3，此时可计算得到测试装置的电●容为CZ = C3 －C1
d. 计算被测样品的介质损耗系数
式中：CZ为测试装〓置的电容（平板电容器二极片间距为样品的厚度D2）
C0为测试电感『的分布电容（参考LKI-1电感组的分№布电容值）
6． 其他应用使用方法
使用本测试装置和Q表配用，对绝缘材料以及其他高阻性能的薄材，例如：优质纸张、优质木材、粉压片料等，进行相对测▼量，其测试方◥法就非常简便、实用，采取被测样品和标准样品相比较方法，就能灵〗敏地区别二者之间的轻微差别，例如含♀水量、配用原料变动等等。
测试时先把标准样品放入平板电容器，调节Q表主调〗电容，谐※振后读得Q值，再换上被测样品，调节圆筒电位器，再谐振，看Q值变化，如Q值︾变化很小，说明标准样品和被测样品高频损耗值一致，反之说明♀二者性能有区别，被测样品和标准样品的配用原材料相差较大。
五. 注意事项：
1． 测试装置使用结束后，请及时关闭液◥晶显示屏的电源，可延长电池的ㄨ寿命。如果电池发出电压卐低报警，应及时更换电池保证测量的精度。电∮池更换位置位于液晶显示屏的被面十字盖冒下。用工具将十字盖冒逆时针旋转约45°，既ぷ可取下十字盖冒，更换电池。
2．本测试装置是由精密机Ψ 械构件组成的测微设ㄨ备，所以在使用和保存时要避免振动和碰撞，要求在不含腐蚀气体和干◤燥的环境中使用和保存，用户不能自行【拆装，否则其工作性能就不能保证，如测试夹具受到碰撞，可以送生№产厂家定期检查，要检测⊙以下几个指标：
a) 平板电容器⊙二极片平行度在0-5mm间连续♂不超过0.05 mm。
b) 圆筒电容器的轴和轴同心度误差不超过0.1mm。
数显介质损耗测试装置与
配合使用补充说明
Q表最新增加了介质◤损耗系数tgδ的测〖试功能，特增加此数显介质损耗测试装置有→与之配合使用补充说明。 Q表的介←质损耗系数tgδ的测试功能省去了人工的计算，将大大地方便介质损耗系数tgδ的测试。有关介质损■耗测试装置的使用可参阅数显介质损耗测试装置使用说明。
使用方法
a. 介质损耗测试装置上的□夹具插头插入到Q 表测试↑回路的“电容”两个端子上。
b. 在电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈（本公司 Q表配套使用的LKI-1电感组能满足要求），如：1MHz 时电感取250uH，15MHz时电感取1.5uH。
c. 先测出损︻耗测试装置在测试状态下的机构电容CZ
a. 把被测样品插入▲二极片之间，调节平板电容器，到二↙极片夹住样品止（注意调节时要用测微杆，以免夹得过紧或过松）。 然后取出平板电容器中的样□ 品，
但要保持平板电容器间的间距◣不变。
b. 改变Q表上的主调☉电容容量，使Q表处于谐振点上；电容『读数记为C1。
c. 然后取下测试↓装置，再改变Q表上的主调电容容量，重新使之谐振，电容读数记为C3，此时可计算得到测试装置的电容为CZ = C3 －C1
4．介质损耗系数的测试
a. 重新把测试装置上的夹具插头插入到Q 表测试回路的“电容”两个端上。
把被测样品插入二极片之间，改变Q表上的主调电容容量，使Q表处于谐振点上。然后按¤一次 Q表上▓的小数点（tgδ）键，在显示屏◥上原电感显示位置ㄨ上将
显示C0= x x x，此时可输入分＠布电容值。分布■电容为机构电容CZ和电感分布电容C0（参考电感的技术说明）的和。分布电↑容值输入的有效位为3位，0.1pF至99.9 pF，输入时不需输入小数点，只需输入3位有效数。例0.1pF，只需输入
001；99.9pF，只需输入999。
同时，显示屏上原C和Q显示变化为C2和Q2。
b．取出〖平板电容器中的样品，（保持平板电容器间的间距不变）这时Q表又失谐，再改变Q表上的主调电容容量，使Q表重新处于谐振点上。
c. 第二次按下 Q表上的小数点（tgδ）键，显示屏上原C2和Q2显示变化为C1和Q1，同时显◥示介质损耗系数tn =．x x x x x ，即完成测♂试。
5.出错提示，当出现tn = NO 显示时，说明测试时出现了差错，发生了Q1 ≤ Q2和C1 ≤ C2的错误情况。
