高低温介电温谱测量仪
高低温介电温谱/频谱测量系统
GCWP-A
一、 概述：
高低温介电常数适用于各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物质的一项重要的物理性质，通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究科研机关、高校、工厂等地方。它是在特殊环境下，测量介质在该环境温度下的介电常数。
高低温介电温谱测量仪
高低温介电温谱测量仪
可同时测量及输出频率谱、电压谱、偏压谱、温度谱、介电温谱、阻抗谱的测量数据与图形。测试频率为DC-30MHz。
首先，需要准备一套介电温谱测试仪，也就是专业的高温介电温谱测量系统。
制备样品，需制备为圆盘〗样品，表♀面打磨光滑平整，涂上电极。
5种频率选件（20Hz至10/20/30/50/120MHz）以及频率升级选件使您可以根据新的投资额度选购适合的选件。
E4990A支持多款测试附件，因此能够降低测量复杂性并提高可靠性。
研究微波介电材料的温度特性，能够研究影响材料复介电常数的一些机理，如相结构、杂质、添加剂、微结构、空位等对微波性能的影响在开始测量前，需◥将高温介电夹具和LCR阻抗分析仪之间进行校准操作。
将样品放入高温介电夹具平台上，使用升降平台将高温介电夹具放入高温测试平台中。
高温介电温谱测量系统软件，设计实验方案，启动测量。（测︼量参数设置为C和D，软件自动换算介电常数）
功能特点
夹具多样化，1 3组合便捷实用
公司自主研发有高温介电测试夹具、高温四◤探针夹具、高温两探针夹具，可与高温测试平台配套组成一套或多套高温∮阻抗、介电测量系统。
高低温介电温谱测量仪
控温精度高，7种控温方式可选
温度范围从室温至600、800℃，具备精确的PID控制算法，控温精度可到±0.3℃，确保温度控制不超调。提供7种不同控温式，
满足客户多种测试需求。
应用范围：
无源元器件：电容器、电感器、铁氧体磁珠、电阻器、变压器或晶体/陶瓷谐振ㄨ器的阻抗测量。
半导体元器件：变容二极管的C-V特征分析。二极管、晶体管、放大器或MEMS的阻抗测量。
高温介电温谱测量系统是为了满足材料在高温环境下的介电性能测量需求而设◢计的。它由硬件设备和测量软件组成，包括高温测试平台、高温测◥试夹具、阻抗分析仪和高温介电温谱测量系统软件四个组成部分←。
标准测试，数据更加可靠
高温介电测试夹具根据标准ASTMD150方法，采用平行板电极原理设计。电极由上电极、下电极以及保护电极组成。上〇下电极具
有良好的同心度和平行度，保护电极可减少周围空气电容的影响，使得测试数据更加准确可靠。
阻抗分析仪∩集成度高，可定制开发
高温阻抗、介电测量系统软件将高温测试平台、高温测试夹具测量设备无缝连接,实现了自动完成高温环境下的阻抗、介电参数的测量与分↑析。
高低温介电温谱测量仪
高低温介电温谱测量仪
其他元器件：印刷电路板元器件的阻抗测量。
介电材料：塑料、陶瓷和印刷电路板的介电常数和损耗因数测试。
磁性材料：铁氧体、非晶体的导磁率和损耗因数测试。
图谱数据一次测量，同时输出
手持式频谱分析仪专为满足现场作业而设计。它轻巧便携，快速精确，坚固耐用，具有丰富的测量功能，是追求优异性能和卓越价值的佳选择。
高温测试平台是为样↓品提供一个高温环境;高温测试夹具提供待测试样品的测试平台;阻抗分析仪则负责测试各组参数数据。
射频阻抗/材料分析提供极限阻抗▓测量性能和功能强大的内置分析功⌒能。它将为元器件和电路设计人员测量3GHz以内的元器件提供▲创新功能，帮助他们进行研发工作。
再通过测量软件将这些硬件设备的功能整合在一起，形成一套由实验方案设计到温度控制、参数测量、图形数据显示与数据分析于一体的高温介电测量系统。
软件可根据实验方案设∞计，通过测量C和D值，自动完成介电常数和介电损耗随频率、电压、偏压、温度、时间变化的曲线。一次测量，同时输出，测量效◥率高、数据『丰富多样。
与反射测量▽技术不同，E4991A使用射频电流–电压（RF-IV）技术，可在广泛的阻抗范围内提供更精确的阻抗测量结㊣ 果。基本阻抗精度是 /-0.8%。高Q精度有利于进行低功耗↘元器件分析。内置合成器具有1MHz到3GHz的扫描范围和1mHz的分辨率。
数据库存档，数据分析更高效,软件自带数据库存储系统，数据可保存至系统数据库，可供历史数据查询与分析。另外，还支持Excel、txt文件格式导出保存。
高温介电测量系统用于高温下材料的介电♀性能测量与分析，包括介电常数、介质损耗、电容等参数。系统软件也可以测量其它阻抗参数。
系统使用平行电极方法测量介电参数，多可以同时测量四个样品，应用于绝缘材料产品的开发与检测，评估产品介电性能与温度的关系。
高温四探针测量系统;高温绝◥缘电阻测量系统,多工位玻璃试管旋转密封系统,气敏电阻测量系统,多路油浴极化装置温度特性评估
温度特▲性测试套件是一款为元器件和材料进行温度特性测量的新型解决方案。该选件可在-55°C至 150°C广泛的温度〓范围内
提供高精度的温度特性分析功能，以及强大的温度漂移补偿功能。
功能特点：可以通过与Agilent高频分析仪的完美结合达到极宽的频率范围；能灵敏地测量极低电导率和极低损耗的材料；具
有极宽的阻抗分析范围;
可以在ㄨ高温、宽频下测量各种固体样品的介电常数、介电损耗，电容C，损耗D，电感L，品质因数Q，阻抗Z等物理量；
频率：1MHz至3GHz
振荡器电平：高达1dBm/0.5Vrms/10mArms
DC偏置电平（选件E4991A-001）： /-40V或 /-50mA
其自主研发的触摸屏控制，操作更加便捷；该系统软件可以实时进行各种不同参数的测量与分析，可以实现频率谱、温度谱、偏压谱、阻抗谱、介电谱、时间谱等测量功能，可以绘制介电常数和介电损耗随多个温度、多个频率变化、时间和电压变化的曲线。
技术规格：测量温度：室温---1000°C升温斜率：3°C/min(典型值)测量精度：±0.1°C控温精度：±1°C测量频率：20Hz---20MHz
测量精度：0.05%AC电平：0V到1Vrms直流偏压：0到±40V/100mA样品尺寸：直径小于20mm，厚度小于5mm加热方式：电阻丝加热电极材料：铂金仪器通讯：4个USB通讯
阻抗分析仪集成度高，可定制开发
高温阻抗、介电测量系统软件将高温测试平台、高温测试夹具;实现了自动完成高温环境下的阻抗、介电参数的测量与分析。另外，还可根据用户提供的其他LCR品牌或型号完成定制需求。
图谱数据一次测量，同时输出,软件可根据实验方案设计，通过测量C和D值，自动完成介电常数和介电损耗随频率、电压、偏压、温度、时间变化的曲线。一次测量，同时输出，测量效率高、数据丰富多样。
高低温介电温谱测量仪
