介电常数仪,网络分析仪
GCSTD-A
介电常数及介质∩损耗测试仪
GCSTD-A 介电常※数测试仪及介质损耗测试仪
满足标准:GBT1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法
ASTMD150/IEC60250
冠测公司自主研发电性能专业检测仪器分类
序号 | 设备名称 | 设备型号 | 测试指标 | 备注 |
1 | 电压击穿试验仪 | DDJ10KV-150KV | 介电强度、泄漏电流 | 介电强度、泄漏电流 |
2 | 体积表面电阻测▲定仪 | GEST-121 | 体积电阻率、表面电阻率 | 体积电阻率、表面电阻率 |
3 | 高◢频介电常╳数测试仪 | GCSTD-A | 介电常数、介质损耗 | 测试频率10KHZ-50MHZ |
4 | 高频■介电常数测ㄨ试仪 | GCSTD-B | 介电常数、介质损耗 | 测试频率20KHZ-160MHZ |
5 | 工频介卐电常数测试仪 | GCSTD-C | 介电常数、介质损耗 | 测试频率50HZ |
6 | 高低频介电常数测试仪 | GCSTD-D | 介电常数、介质损耗 | 测试频率20HZ-5MHZ |
7 | 耐电弧试验仪 | NDH-A | 耐电弧 | 微机控制、触摸屏↓控制 |
8 | 高压『漏电起痕试验仪 | NLD-AI | 高压等级测试 | 最高电压6KV |
9 | 耐电痕化指数测定仪 | NLD-B | CTI\PTI | 最高电压600V |
10 | 电线电缆耐电痕试验仪 | NLD-C | 漏电痕迹、电痕化 | 触摸屏 |
11 | 导体电阻率测定仪 | GEST-125 | 导体电阻率 | 触摸屏 |
12 | 半导体电阻率测定仪 | GEST-123 | 半导体电阻率 | 触摸屏 |
13 | 炭素材料电阻率测定仪 | GEST-122 | 电阻率 | 触摸屏 |
14 | 石油焦粉末电阻率测定仪 | GEST-124 | 电阻率 | 触摸屏 |
15 | 回路电阻测定仪 | HLD-100A | 回路电阻 | 数字 |
16 | 高︻温耐压试验仪 | DDJT-10KV-150KV | 高温耐压 | 温度和电压范围可选 |
17 | 电阻温度特性测定仪 | GCWRT-II | 电阻温度特性 | 微机控制 |
18 | 介电温谱ω 特性测定仪 | GCWP-A | 温谱、频谱 | 温度和频率范围可选 |
介电常数仪,网络分析仪
高压电桥主要用于测量高压工业绝缘材料的介质损失角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路。电桥由桥※体、指另仪、跟踪器组■成,本电桥特别适用测量各类绝缘油和绝缘材料的介损(tgδ)及介电常数(ε)。
介电常数介质损耗试验仪的技术指标1.Q值测量a.Q值△测量范围:2~1023。b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c.标称误差项目GDAT-A频率范围20kHz~10MHz;固有误差≤5%±满度值的2%;工作误差≤7%±满度值的2%;频率范围10MHz~60MHz;固有误差≤6%±满度值的2%;工作误差≤8%±满度值的2%。2.电感测量范围:14.5nH~8.14H3.介电常数介质损耗试验仪电容测量:1~460项目GDAT-A直接测量范围1~460pF主电容调☆节范围准确度30~500pF150pF以下±1.5pF;150pF以上±1%注:大于直接测量范围的电容测量见使用规则4.介电常数介质损耗试验仪信号源频率覆盖范围项目GDAT-A频率范围10kHz~50MHz频率分段(虚拟)10~99.9999kHz100~999.999kHz1~9.99999MHz10~60MHz频率指示∏误差3×10-5±1个字5.Q合格指示预』置功能预置范围:5~1000。6.Q表正常工作条件a.环境温度:0℃~ 40℃;b.相对湿度:<80%;c.电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。7.其他a.消耗功率:约25W;b.净重:约7kg;c.外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。
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验收标准:试验机按订货技术附件进行验收。终验收在买方进行,对用户提供的试样进行试验,并提供测试报告。
培训:安装调试同时,在仪器操作现场一次性免费培训操作人员2-3名,该操作人员应是由需方选派的长期稳定♂的员工,培训后能够对设备基本原理、软件使用、操作、维护事项理解和应用,使人员能够独立操作设备对样品进行检测、分析,同时能进行基本的维护。
本标准规定◤了在15Hz,300MHz的频率范围内测量电容率、介质损耗因数的方法,并由此计算某些数值,如损耗指数。本标准中所叙述的某些方法,也能用于其他频率下测量。
本标准适用于测量液∑体、易熔材料以及固体材料。测试结果与某些物理条件有关,例如频率、温度、湿度,在特殊情况下也与电㊣ 场强度有关。
有时△在超过1000V的电压下试验ぷ,则会引起一些与电容率和介质损①耗因数无关的效应,对此不予▆论述。
绝缘纸介电常数介质损耗测试仪2、规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容○)或修订版均不适用于本标〗准,然而,鼓励根据本标准达成↘协议的各方研究是否可使用这些文件的zui新版本。凡是不注日期的引用文件,其zui新版本△适用于本标准。
IEC60247:1978 液体绝缘材料相对电容率←、介质损耗因数和直流电阻率的测量
介电常数仪,网络分析仪
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测定材料的电容率和介质损耗因数,zui好采用板状试样,也可采用管状试样。
在测定电容率需要较高精度时,的误差来自试样尺寸的误差,尤其是试样厚度的误〗差,因此厚度应@ 足够大,以满足测量所需》要的精确度。厚度的选取决定于试样的制备方法和各点间厚度的变化。对1%的精№确度来讲,1.5mm的厚度就足够了,但是对于更高精确度,zui好是采用较厚的试样,例如6mm?12mm。测量厚度必须使测量点有规则地分布在整个试样表面上,且厚度均匀度在±1%内。如果材料的密∮度是已知的,则可用■称量法测定厚度。选取试样◢的面积时应能提供满足精度要求的试样电容。测量10pF的电容时,使用有良好屏蔽保护的仪【器。由于现有仪器的极限分辨能力@ 约1pF,因此试样应√薄些,直径为10cm或更大些。
需要测低损耗因数值时,很重要的一点是导线串联电阻引人的损耗要尽可能地小,即被测电容和该电阻的乘积要尽可能小。同样,被测电容对总电容的比值要尽可能地大。点表示导线电阻要尽可能低及试样电容要小,第二点表示接有试样桥臂的总☉电容要尽可能小,且试样电容要大。因此试样电容zui好取值为20pF,在测◢量回路中,与试样并联的电容不应大于ζ约5pF
加到试样上的电极
电极可选用5.1.3中任意一种。如果不用保护环,而且试样上下的两个电极难以对齐时,其中一个电极应比另一个电极大些。已经加有电极的试样应放置在两个金属电极之间,这两个金属电极要比试样上的电极稍小些。对于平※板形和圆柱形这两种不同电极结构的电容计算公式以及边缘电容近似计算的经验公※式
对于介质损耗因数的测量,这种类型的电极在高频下不能满足要求,除非试样的表面和︻金属板都非常平整。图1所示的电ξ极系统也要求试样厚度均匀。
试样上不加电极
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对于低介质损耗因数的待测液体,电极系统*重要的特点是:容易清洗、再装配(必要时)和灌注液体时不移动电极的相对位置。此外还☆应注意:液体需①要量少,电极材料不影响液体,液体也※不影响电极材料,温度易于控■制,端点和接线能适当地卐屏蔽;支撑电极的绝缘支架』应不浸沉在液体中,还有,试验池不应含有太短的爬电距离和尖锐的边缘,否则能影响测量精度。
满足上述要求的试验池见图2?图4。电极是不锈钢的,用硼硅酸盐玻璃或石英玻璃作绝缘,图2和图3所示的试验池也可用作电阻率的测定,1EC60247:1978对此已详细叙述。
由于有些液体如氯化物,其介质损耗因数与电极材料①有明显的关系,不锈钢电▲极不总是*合适的。有时,用铝和杜♂拉铝制成的电极能得到比较稳定的结果。
测置⊙方法的选择
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