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                薄膜介质损耗测试仪

                薄膜介质损耗测试仪
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                华中科技大学,哈尔滨科技大学
                详细说明

                  1、环境温度:0℃~+40℃;

                  2、相对湿度:<80%;

                  3、电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。

                  4、消耗功率:约25W;

                  5、净重:约7kg;

                  6、外型尺寸:(长宽高):380×280×132(mm)

                  三种不同型号的仪品,主要区别展领事不问,服已试,选择合适的型号

                  国体:材股策在日034smn可选;原设可调a15num

                  批体:建能检片真牌038mt;质保押内经845mm,深Trmm(a配)信样置材:盖件样品等注器大:0.5-15

                  产品配置:

                  1试机:一

                  2、项试电话:5

                  3.项试支具:1配体一)

                  GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪

                  主要用途

                  主要用途主要用于测量非金属材料的介电常数(e)和介质损耗(tanδ)

                  应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用ζ 研究。

                  满足标准:

                  GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介○质损耗因数的推荐方法

                  GB/T5654-2007液体绝缘材料相对电容率、介质损耗因数和直流电阻】率的测量

                  GB/T21216-2007绝缘液体测量电@ 导和电容确定介质损耗因数的试验方法

                  GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法

                  GB/T55944-1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法

                  GBT1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法

                  ASTM D150/IEC60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法

                  方法概述:

                  介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tan及介电常数(),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器︻的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阴抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至〇,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的0值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损▆耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。

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