GCSTD系列介电常数测量仪
GCSTD系列介电常数测量仪
一、满足标准:
GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括⊙米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的←推荐方法
GB/T1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值♂的测定方法
ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法
产品概述
本仪器是一种先进的测量介质损耗(tgδ)和电容容〗量(Cx)的仪器,测量各种绝缘材料、绝缘套管、绝缘液体、电力电缆、电容器、互感器、变压∑器等高压设备的介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)。具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压,抗干扰能力@强, 测试时间短等优点。
本测「试仪采用变频电源技术,利用单片机和电子技术进行自动频率变换、模/数转换和数据运算,达到抗干扰能力强、测试速度快、精度高、操作简便的功能。
GCSTD系列介电常数测量仪
二、方法概述
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器々等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介○质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损︼耗和介电常数的各种因素,为提高材料的@ 性能提供依据;仪器的基本原理是采用高@ 频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动↑搜索,Q值量程自动☉转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试∮回路的残余电感减至最低,并保♀留了原Q表中自动稳幅等技术,使得【新仪器在使用时更为方便,测〗量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。
三、主要用途:
主要用于测量非金属材料的介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)
四、应用对象:
该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性◤能的应用研究。
性能特点
1、仪器测量∞准确度高,可满︻足油介损测量要求,因此只需配备标准油杯,和专用测试线︻即可实现油介损测量。
2、采用变频技术来消除现场50Hz工频干扰,即使在强电磁干扰的环境下也能测得可靠的数据。
3、过流保护功能,在试品短路或击穿时仪器不受损坏。
4、内附标准▓电容和高压电源,便于现场测试,减少☆现场接线。
5、仪╳器采用大屏幕液晶显示器,测试过程通过汉字菜单提示既直观〇又便于操作〇。
GCSTD系列介电常数测量仪
六、电极规格
固体:材料测量直径Φ38mm 可选;厚度可调 ≥ 15mm
液体:测量极◆片直径 Φ38mm; 液体◆杯内径Φ48mm 、深7mm(选配)
粉体:测量极片直径 Φ38mm; 液体杯内径Φ48mm 、深7mm(选配)
试样要求:固体样品厚度要求:0.5-15MM
七、产品配置:
1、测试主机:一台
2、测试电感:9个
3、测试夹具:1套(标配固体测试夹具一套)
八、其它规格:
1、环境温度:0℃~+40℃;
2、相对湿度:<80%;
3、电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
4、消耗功率:约25W;
5、净重:约7kg;
6、外型尺寸:(长宽高):380×280×132(mm)
GCSTD系列介电常数测量仪;完全整合的研究系统,可用来测试从绝缘体到超导体的大部分材料的电学性质。此测试系统ㄨ即提供时域技术,如恒定电流,通过脉冲电压和扫描电压(I-V)确定材料的电学▃性能;又提供AC技术如阻▃抗、电容、C-V或者Mott-Schottky来提供更多细节信息进一步分析材料的导电机理。
系统使用圆柱型电极方法测量介电参数,应用于绝缘材料产品的开发与检测,评估产品介电性能与温度的关系。
安捷伦的最新阻抗分析∴仪是业界能在 20 Hz ~ 3 GHz 频率范围内对毫欧姆到兆欧姆的所有元器件执行高精度测量的仪器,因而能够轻松评估高质量元器件⌒的真实特征。
为分析低电导率、低损耗材料要扩展即使是zui好的频响分析▲仪的能力。阻抗仪(1260)单独♂使用时,已不能有效地解决上述问题。
高温阻抗测量系统用于高温下材料的阻抗性能测量与分析,包括阻抗、相位角及其它变换参数。系统软件也可以测量介电常数与介质损耗等介电参数。
超高阻抗测试仪接口克服了这些限制,提供一个范围超过了12个数』量级的快速、精确、可重复』的阻抗测量,阻抗测量超过▓100TΩ(1014Ω),可洞察各种材料包括聚合物、橡胶、木材、粘胶剂、电子元件、石腊及油类等的特性。与易于操作的软↘件相结合,系统能照应实验技术而让你集中精力于所得结果的分析。
具有抗电磁干扰能力︼强、频率范围宽等特点,主要应用于材料研究与应用开发。测试电极使用铂金材料,可减少接触电阻。根据不同的ω 测试材料,可以选择四探针与两探针两种测试夹具。
技术参数
校准频率:DC-30MHz
夹具设计:符合ASTM D150国际标准
测试原理:平行板电容器原理
测试电极:平行∑板上下电极+保护电极
阻抗测量超过100TΩ(1014Ω),测试范围从100Ω-100TΩ,达12个数量级;
精确『测量介质损耗,tanδ<10-4;
频率范围:10μHz ~10MHz;
随着低功耗紧凑型设备市场需求的激增,高效的电源转换器已经变得更加重要,而且需要知道产品设计阶段关键的低损耗元器件的真实特征。
高温阻抗、介电测量系统包括高温阻ξ抗、高温介电测量两部分功能。除了高温测试平台和测量系统软件外,包括高温介电夹具、高温探针夹具。
高温介电测试仪集主∮机(含高温炉)、测量夹具、测量分○析软件于一体,实现实时々测量,同步分析,自动保存。量身定制的功能为科研实验提供最大的便利。该测量系㊣ 统是专业从事材料介电性能、热释电、温度弛豫、电弛豫研究的理想测试工具。
通过更换夹具就可以实现不同的测量功能。具有抗电磁干扰能力强、频率范围宽等特点,主要应用于材料研究与应用开发。探针测试电极使用铂金材料,可减少接触电阻。
频谱分析仪是实现电磁信号各ξ 层面参数测试的最常用也是最通用的测试仪表,各型测试、测量、监测接收机是为满足领域应用ζ 而生的具有独特适用性的测试↑仪表。
高温探针测试系统提〓供高温环境及高温探针测〓试夹具。可以另配♀电流/电压源测量仪器,测量材料的电导率或电阻率,或者C-V、I—V等曲线。
频率◣范围覆盖3Hz~325GHz,涵盖信号/频谱分析仪、电磁信号监测分析仪、监测接收机、宽带接收机、场强测试仪以及毫米波扩频模块等多种系列产品,产品结构形式有台◇式、便携式、手持式、PXI模块等,可为用户提供全面◥的高性价比信号接收□与分析解决方案。
安捷伦科技2014年5月推出Agilent E4990A 和 E4991B 阻抗分∞析仪。这两款分析仪专门面向∴研发、质量保证和检◢验工程师,用以对无源电子元器件、半导体设备和材料进行表征和评测。分析仪具有灵活的频率选件,并且都以适中的价格提供业内最出色的精度和性能。
系统配温度控制系统软件。也可以根据具体要求,与相关的仪器配套,定制测量系统。
冠测公司自主研发电性能专业检测仪器分类
序号 | 设备名称 | 设备型号 | 测试指标 | 备注 |
1 | 电压↑击穿试验仪 | DDJ10KV-150KV | 介电强度、泄漏电流 | 介电强度、泄漏电流 |
2 | 体积表面电╱阻测定仪 | GEST-121 | 体积∮电阻率、表面电阻√率 | 体积电阻率、表面电阻率 |
3 | 高频介电常数测☉试仪 | GCSTD-A | 介电常数、介质损耗 | 测试频率10KHZ-50MHZ |
4 | 高频介电常数测试仪 | GCSTD-B | 介电常数、介质损耗 | 测试频率20KHZ-160MHZ |
5 | 工频介电常数测试仪 | GCSTD-C | 介电常数、介质损耗 | 测试频率50HZ |
6 | 高低频介电常√数测试仪 | GCSTD-D | 介电常数、介质损耗 | 测试频率20HZ-5MHZ |
7 | 耐电◥弧试验仪 | NDH-A | 耐电弧 | 微机控制、触摸屏控制 |
8 | 高压漏Ψ 电起痕试验仪 | NLD-AI | 高压等级测试 | 最高电压6KV |
9 | 耐电痕化指数测№定仪 | NLD-B | CTI\PTI | 最高电压600V |
10 | 电线电缆耐电痕试验仪 | NLD-C | 漏电痕迹、电痕化 | 触摸屏 |
11 | 导体电※阻率测定仪 | GEST-125 | 导体电阻率 | 触摸屏 |
12 | 半导→体电阻率测定仪 | GEST-123 | 半导体电阻率 | 触摸屏 |
13 | 炭素材料电阻率测定仪 | GEST-122 | 电阻率 | 触摸屏 |
14 | 石油焦粉末电阻率测定仪 | GEST-124 | 电阻率 | 触摸屏 |
GCSTD系列介电常数测量仪