绝缘材料介电常数测试仪/介电常数测试仪
工频介电常数测试仪/介质损耗测试仪
满足标准：
GB/T1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法
GB/T 5654-2007 液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量
GB/T 21216-2007 绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法
GB/T 1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法
GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法__介质损耗角正◆切值的测试方法
绝缘材料介电常数测试仪/介电常数测试仪
分析仪的其他关键特性还包括：紧凑的外形，可与其他仪器和工具合理利用工作台空间；简单易操作的用户界面；10.4 英寸彩色 LCD 触摸显示屏；多重设置功能，可确保用户对同一时间不同条件下的多个参数进行评估；精心设计的等效电路分析功能，支持七种不同的多参数模式，利用此项功能用户能够对元器件的等效参数值进行仿真。
控温精度：±0.3℃
显示精度：0.1℃
升温速率：1-6℃/min
4个元件测试夹具（被测件尺寸：0.5 mm至20 mm）
独立选择2个通道∏的参数
直接读取介电常数、导磁率（选件）
控温方式：提供恒温、变温、常温三种控温方式，同时结合升温、降温温区可组合7种不同的测量方法。
温度控制：带智能PID控制算法，全温区控温无超调。
2个材料夹具（工作温度：-55至+200摄氏度）
多功能分析（温度、科尔-科尔图表、松弛时间）
扫描参数（频率、交流电平、直流偏置、温度）
绝缘材料介电常数测试仪/介电常数测试仪
绝缘材料介电常数测试仪/介电常数测试仪
D374 固体电绝缘材料厚度的标准试验方法
D618 试验用塑料调节规程
D1082 云母耗散因子和电容率（介电常数）试验方法
D1531 用液体位移法测定相对电容率（介电常数）与耗散因子的试验方法
D1711 电绝缘相关术语
D5032 用饱和甘油溶液方式维持恒定相对湿度的规程
E104 用水溶液保持相对恒定湿度的标准实施规程
E197 室温之上和之下试验用罩壳和服役元件规程（1981年取消）5
3.术语
3.1 定义：
3.1.1 这些试验方法所用术语定义以及电绝缘材料相关术语定义见术语标准D1711。
3.2 本标准专用术∞语定义：
3.2.1 电容，C，名词——当导体之间存在电势差时，导体和电介质系统允许储存电分离电荷的性能。
3.2.1.1 讨论——电容是指电流↓电量 q与电位差V之间的比值。电容值总是正值。当电量采用库伦为单位，电位采用伏特为单位时，电容单位为法拉，即：C=q/V
3.2.2 耗散因子（D），（损耗角正切），（tanδ），名词——是指损耗指数（K''）与相对电容率（K'）之间的比值，它还等于其损耗角（δ）的正切值或者其相位角（θ）的余切值（见图1和图2）。D=K''/K'
3.2.2.1 讨论——a：D=tanδ=cotθ=Xp/Rp=G/ωCp=1/ωCpRp
式中：
G=等效交流∞电导，
Xp=并联电抗，
Rp=等效交流◆并联电阻，
Cp=并联电容，
ω=2πf（假设为正弦波形状）
耗散因子的倒数为品质因子Q，有时成为储能因子。对于串联和并联模型，电容器耗散①因子D都是相同的，按如下表示为：
D=ωRsCs=1/ωRpCp
串联和并联部分之间的关系满足以下要求：
Cp=Cs/(1 D2)
Rp/Rs=(1 D2)/D2=1 (1/D2)=1 Q2
相对介电常数εr可以用静电场用如下方式测量:首先在其两块极板之间为空气的时候测试电容器的电容C0.然后,用同样的电容极板间距离但在极板间加入电介质后侧得电容Cx.然后相对介电常数可以用下式计算
εr=Cx/C0
绝缘材料介电常数测试仪/介电常数测试仪
5.意义和用途
5.1 电容率——绝缘材料通常以两种不同方式来使用，即（1）用于固定电学网络部件，同时让其彼此以及与地面绝缘；（2）用于起到某一电容器的电介质作用。在靠前种应用中，通常要求固定的电容尽可能小，同时具有可接受且一致的机械，化学和耐热性能。因此要求电容率具有一个低值。在第二种应用中，要求电容率具有一个高值」，以使得电容器能够在外型上能尽可能小。有时使用电容率的中间值来评估在导体边缘或末端的应力，以将交流电晕降至较小。影响电容率的因子讨论见附录X3。
5.2 交流损耗——对于这两种场合（作为电学绝缘材料和作为电容器电介质），交流损耗通常必须是比较小的，以减小材料的加热，同时将其对网络剩余部分的影响降至较小。在高频率应用场合，特别要求损耗指数具有一个低值，因为对于某一给定的损耗指数，电介质损耗直接随着频率而增大。在某些电介质结构中，例如试验用终止衬套和电缆所用的电介质，通常电导增加可获得损耗增大，这有时引入其来控制电压梯度。在比较具有近似相同电容率的材料时或者在材料电容率基本保持恒定的条件下使用任何材料时，这可能有助于考虑耗散因子，功率因子，相位角或损耗角。影响交流损耗的因子讨论见附录X3。
5.4 相关性——当获得适当的相关性数据时，耗散因子或功率因子有助于显示某一材料在其它方面的特征，例如电介质击穿，湿分含量，固化程度和任何原∩因导致的破坏。然而，由于热老化导致的破坏将不会影响耗散因子，除非材料随后暴露在湿分中。当耗散因子的初始值非常重要的，耗散因子随着老化发生的变化通常是及其显著的。
介电常数介质损耗测定仪测量前的准备
介电常数介质损耗测定仪用于现场抗干扰介损测量，或试验室精密介损测量。为一体化结构，内置介损电桥、变频电源、试验变压器和标准电容器等。介电常数〖介质损耗测定仪采用变频抗干扰和傅立叶变换数字滤波技术，全自动智能化测量，强干扰下测量数据非常稳定。介电常数介质损耗测定仪广泛适用于电力行业中变压器、互感器、套管、电容器、避雷器等设备的介损测量，这个是介损测试仪的用途。
以下是关于介电常数介质损耗测定仪的操作方法：
介电常数介质损耗测定仪测量前准备：
1）用接地线一端接介电常数介质♀损耗测定仪的接地柱，另一端接可靠的大地，保证介电常数介质损耗测定仪外壳处在地电位上。
2）正接线时：将高压①电缆插头插入后门HV插座中，将另一端◣的红色大钳子夹到被测试品的高端引线上，黑色小钳子悬空或夹在红色大钳子上。将CX低压电缆插入CX插座中，另一端的红色夹子夹试品的低端，黑色夹子悬空或接屏蔽装置。
3）反接线时：将高压电缆插头插入后门HV插座中，将另一端的红色大钳子夹到被测试品的高端引线上，红色小钳子悬空或接屏蔽装置。Cx插座不用。
2．打开电源开关，介电常数介质损耗测定仪进行自检，若自检良∴好，液晶屏显示中文主菜单。
菜单选择：
1） 按键可移动光标至各菜单项，并循环指示。被选中项反白字体显示。
2） 在光标当前所示项目，按▼ ▲键键可进行该项菜单的变更，并循环指示，。
3） 将菜单变更至与测试要求相对应后即可按选择介电常数介质损耗测定仪键进行下个项目的选择。
介电常数介质损耗测试仪的实验步骤
介电常数介质损耗【测试仪中介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常√数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。
介电常数介质损耗测试仪的工作原理是什么?
介电常数介质损耗测试仪的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。介电常数介质损耗测试仪以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自※动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至zui低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。介电常数介质损耗测试仪能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。介电常数介质损耗测试仪用于科研机关、学校、工厂等单位对无■机非金属新材料性能的应用研究。
介电常数介质损耗测试仪的实验步骤：
1.介电常数介质损耗测试仪适用于110V/220V，50Hz+0.5Hz交流电，使用前要检查市电电压是否合适，zui好采用稳压电源，以保证介电常数介质损耗测试仪测试条件的稳定。
2.开机预热15分钟，使介电常数介质损耗测试仪恢复正常状态后才能开始测试。
3.按部件标准制备好的陶瓷试样，两面〗用烧渗法被上银层，并分别焊上一根Φ0.8mm，30~40mm长的金属引线。引线材料为铜，表面镀银并浸锡。
4.选择适当的辅助■线圈插入电感接线柱。根据需要选择振荡器频率，调节测试电路电容器使电路谐振。假定谐振时电容为C1，品质因素为Q1。
5.将被测样品接在“CX”接线柱上。再调节测试电路电容器使电路谐振，这时电容ω 为C2，介电常数介质损耗测试仪可以直接读出Q2，并且Q2= Q1-△Q。
6.用游标卡尺量出试样的直径Φ和厚度d(分别在不同位置介电常数介质损耗测试仪测得两个数据，再取其平均值)。方形式样按其边】长的4倍计算Φ值。
绝缘材料介电常数测试仪/介电常数测试仪
