介电常数测定仪/介电常数测量仪
工频介电常数及介质损耗测试仪
GCSTD-C
参照国标
GB/T 1693-2007
介电常数介质损耗测定仪用于现场抗干扰介损测量，或试验室精密介损测量。为一体化结构，内置变频电源、介损电桥、试验变压器和标准电容器等.采用变频抗干扰和傅立叶变换数字滤波技术，全自动智能化测量，强干扰下测量数据非常稳定。介电常数介质损耗测定仪采用计算机控制，通过人机对话方式，完成对绝缘介质的击穿电压强度的测试，工频耐电压击穿强度的测试。介电常数介质损耗测定仪可对试验过程中的各种数据进行快速、准确的采集、处理，并可存取介电击穿电压数据、显示、打印。介电常数介质损耗测定仪主要适用于固体绝缘材料如绝缘漆、树脂和胶、浸渍纤维制品、云』母及其制品、塑▲料击穿电压、薄膜电压击穿仪器复合制品、陶瓷和玻璃耐电压击穿强度等介质在工频电压或〓直流电压下击穿强度和耐电压时间的测试。
介电常数测定仪/介电常数测量仪
介电常数测定仪/介电常数测量仪
目前在超大规模集成电路制造商中，TSMC、 Motorola、AMD以及NEC等许多公司为了开发90nm及其以下技术的研究，先后选用了应用材料公司（Applied Materials）的Black Diamond 作为低介电常数材料。该☉材料采用PE-CVD技术[8] ，与现有集成电路生产工艺完全融合，并且引入BLOk薄膜作为低介电常数材料与金属间的隔离层，很好的解决了上述提及的诸多问题，是目前已经用于集成电路商业化生产为数不多的低介电常数材料之一。
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介电常数测定仪/介电常数测量仪
介电常数及介质损耗测试仪GB/T1693-2007?主要用于测量高压工业∏绝缘材料的介质损耗角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路。主要可以测量电容器，互感器，变压器，各种电工油及各种固体绝※缘材料在工频高压下的介质损耗( tgd)和电容量( Cx)以，其测量线路采用“正接法"即测量对地绝缘的试品。电桥由桥体、指另仪、跟踪器组成，本电桥特别适应测量各类绝缘油和绝缘材料的介损（tgd）及介电常数（ε）。
2.技术指标
2.1 测量范围及误差
本电桥的环境温度为20±5℃，相对湿度为30％－80％条件下，应满足下列表中的技术指示要求。
在Cn＝100pF R4＝3183.2 即10K/π时
测量项目 测量范围 测量误差
电容量Cx 40pF--20000pF ±0.5% Cx±2pF
介质损耗tg 0～1 ±1.5％tgx±0.0001
在Cn＝100pF R4＝318.3 即1K/π时
测量项目 测量范围 测量误差
电容量Cx 4pF--2000pF ±0.5% Cx±3pF
介质损耗tg 0～0.1 ±1.5％tgx±0.0001
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"介电常数" 在工具书中的解释：
1．又称电容率或相对电容率，表征电介质或绝缘材料电性能的一个重要数据，常用ε表示。它是指在同一电容器中用同一物质为电介质和真空时的电容的比值，表示电介质》在电场中贮存静电能的相对能力。对于↓介电材料，介电常数愈大绝缘性愈好。空气和CS2的ε值分别为1.0006和2.6左右，而水的ε值特别大，10℃时为 83.83，与温度有关。
2．介电常数是物质相对于真空来说增加电容器电容能力的度量。介电常数随分子偶极矩和可极化性的增大而增大。在化学中，介电常数是溶剂的一个重要性质，它表征溶剂对溶质分子溶剂化以及隔开离子的能力。介电常数大的溶剂，有较大隔开离子的能〓力，同时也具有较强的溶剂化能力。介电常数用ε表示，一些常用溶剂的介电常数见下表：
"介电常数" 在学术★文献中的解释：
1．介电常数是指物质保持电荷的能力，损耗因数是指由于物质的分散程度使能量损失的大小。理想的物质的两项参数值较小
介电常数测定仪/介电常数测量仪
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ASTM D150-11
实心电绝缘材料的交流损耗特性和
电容率（介电常数）的标准试验方ζ法1
本标准是以固【定代号D150发布的。其后的数字表示原文本正式通过的年号；在有修订的情况下，为上一次的修订年号；圆括号中数字为上一次重新确认的年号。上标符号（ε）表示对上次修改或重新确定的版本有编辑上的修改。
本标准经批准用于国防部所有机㊣ 构。
1.范围
1.1 本试验方法包含当所用标准为集成阻抗时，实心电绝缘材料样本的相对电容率，耗散因子，损耗指数，功率因子，相位角和损耗角的测定。列出的频率范◇围从小于1Hz到几百兆赫兹。
注1：在普遍的用法，“相对”一词经常是指下降值。
1.2 这些试验方法提供ζ 了各种电极，装置和测量技术的通用信息。读者如对某一特定材料相关的议题感兴趣的话，必须查阅ASTM标准或直接适用于被测试材料的其它文件。2,3
1.3 本标准并没有完全列举所有的安全声明，如果︼有必要，根据实际使用情况进行斟酌。使用本规范前，使用者有责任制定符合安全和健康要求的条例和规范，并明确该规范』的使用范围。特殊危险说明见7.2.6.1和10.2.1。
1 本规范归属于电学和电子绝缘材料ASTM D09委员会管辖，并由电学试验D09.12附属委员分会○直接管理。
当前版本核准于2011年8月1日。2011年8月发行。原版本在1922年批准。前一较新版本于2004年批准，即为 D150-98R04。DOI：10.1520/D0150-11。
