低频介电常数测试仪/介电常数仪器
GCSTD-C工频介电常数及介质损耗测试仪
产品名称：工频介电常数及介质损耗测试仪
产品型号：GCSTD-C
满足标准：GB/T 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法
北京冠测精电仪器设备有限公司仪器研发部拥有行业内最优秀的、权威的研发力量及技术团队，长期聘请清华大学精密仪器系的专家为技术顾问，并成立新型材料检测仪器研发中心，是对推动国内材料检测技术的提高和〗试验方法创新的重要技术保证力量。冠测公司同时还与中科院自动化研究所、国防科技大学等全国数十所科研院所开展紧密合作，并为中国国防」军工企业及航天科技企业和重点实验室定制生产了大量标准和非标准的专用测试仪器。
10.1.4 清洗——因为已经发现在某些材料场合，当不带电极进行测试时，样本表面上存在的导电污染物可对结果产生无规律的影响，因此需要采用一种合适的溶剂或其它方式（按照材料规范所述）来清洗试验样本，同时允许在试验之前彻底干燥样本（15）。
当将在空气中在低频率（60~10000Hz）下◤进行测试时，清洗变得特别△重要，但是如在无线电频率下进行测量时，清洗变得不那么重要。在采用一种液体介质进行试验的场合，样本清洗也将降低污染浸泡介质的趋势。被测材料适用的清洗方法参阅ASTM标准或其它规定本试验的文件。
在清洗之后，只用镊子转移样本，然后储存在单独的信封套中，以防止在试验之前被进一步污染。
介质损耗和介电常数是各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物质的一项重要▂的物理性质，通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新□材料性能的应用研究。
低频介电常数测试仪/介电常数仪器
低频介电常数测试仪/介电常数仪器技术参数：
信号源：DDS数字合成 10KHZ-70MHz
调谐电容：主电容30-500PF
调谐电容误差和分辨率 ±1.5P或<1%< p="">
Q测量范围：1-1000自动/手动量程
Q测量工作误差<5%< p="">
Q分辨率：4位有效数，分辨率0.1
独有技术：
仪器自动扣除残余电感和测试引线电感。大幅提高测量精度。
大电容值直接测量显示。
数显微测量装置，直接读值。
参照国标
GB/T 1693-2007
在执行任何试验时，提供方式来对试验期间处于高电压的所有零件进行接地，或者对试验期间获得一个感应电荷而具有电位的所有零件进行接地，或者对甚至在电压源断开之后还保持带电荷而具有电位的所有零件进行接地。认真指导所有操作者，以使得其能采用正确的程序来安全执行试验。
当执行高电压试验时，特别是在压缩气体或在油中测试时，在击穿时释♀放的能量可能足够导致试验箱发生火灾◥，爆炸，或者破裂。设计试验设备，试验箱和试验样本，以使得这类情况的发生可能性降至较小，同时排除人身伤害的可能性。如果存◣在火灾风险，则需配置灭火设备。
注2：将样本连接到测量电路所用的方法是非常重要的，特别是对于两终端测量。对于平行替代测量，试验方法D150先前推荐的临界间距连接方法可导致0.5pF的负误差。当两终端样本作为一个保护在一个试验池中进行测量时，可产生一个类似的误差。因为目前已知没有方法能用于评估该误差，当必须避免该数值的误差时，必须使↓用一种替代方法，也就是说，使用测微计电极◣，液体浸泡池，或者带受保护导线的三终端样本。
注3：为获得电容和耗散因子而执行的测量细节说明以及由于测量电路而执行的任何必要的修正细节说明见商用设备提供的说明书所述。以下章节拟用于提供所需的补充说明。
低频介电常数测试仪/介电常数仪器
低频介电常数测试仪/介电常数仪器背景技〖术：
中国展示了一种介电常数测量装置（号为：201310276389.8，授权公开号为：CN103308778A），包括槽线结构，所述槽线结构两端设置有信号接口，用于连接测试仪器和传输测试信号，槽线结构中设置有孔↘洞，孔洞位于槽线中，用于放置盛装被测材料的容器，测量时将被测介质放入容器中，相当于在槽线结构中嵌入被测介质，利用被测介质对微波传输特性的影响，通过分析放入被测介质前后的传输特性，得到被测介质的介电常数。
为了使嵌入的被测介质能够对槽线结构的传输特性产生实质性影响，提高分析测试的精确度，孔洞的大小应使放置的⌒ 容器具有足够大的容积，其盛装的被测材料能够充分影响槽线结构的传输特性，但这种结构孔洞尺寸不能太大，以至于破坏了槽线结构的微带传输线特性，影响测试结果。
中国公开了一种基于网络分析仪的介质介电常数测量方法（号：201510590507.1，申请公布号为：CN105137199A），其方法是利用美国 S&A 公司的网络分析仪250B测试系统，包括信号☆发生器、频率●计数器、衰减器、功率分配 器、30dB 衰减器、延长器 / 线平衡器、相位计和电压表 ；π型网络测试电路 ，检测电路参数主要包括检测信号频率和用于减小▼误差的π 网络阻抗匹●配电路中各个电阻的阻值。
当所述250B测试系统的信号发生器产生一个信号，经过衰减器衰减后，由功率分配器将信号分为两路电信号，一路经过30dB衰减器后作为参考信号，另一路信号经过延长器/线平衡器后进入π型网络测试电路；所述π型网络测试电路由对称的双π型回路组成，包括输入衰减器、输出衰〗减器和检测探头；所述输入衰减器和输出衰减器用于使得π型网络的阻抗和250B测试系统的阻抗相匹配；
低频介电常数测试仪/介电常数仪器
低频介电常数测试仪/介电常数仪器特点：
1.采用单片机控制 低漂移前置放大高可靠性 及高抗干扰性能
2.数字合成法正弦信号输出失真小
3.重量轻, 体积小
4.对传统电容池进行改进克服了♂漏液现象并获得发明
5.数码显示或液晶显示任选
10.2.4 液体置换方法——当使用单种液体时，充满试验池中，然后测量电容和耗散因子。小心插入样本（或组合样本，如果使用了两个样本池），然后将其置于中心位置。重复测量。为获得较大的精度，如果可以使用测量设备，直接测定△C和△D。从液体中迅速地取出样本，以防止发生膨胀，然后在继续测试另一样本之前重新充满试验池至适当的液位。结果计算公式见ぷ表2给出。
试验方法D1531详细描述了采用了本方法测◥量聚乙烯的应用。当受保护试验池为耐震结构时，按照准确温度控制条款，例如试验方法D1531中方法B的建议，则可通过在两种液体中测量样本来获得更大的精度。本方法也排除了已知样本尺寸的需要。
该程序与以前的程序相同，除了使用两种不同电容率的流体之外（12,13,18）。使用空气作为靠前种流体是很方便的，因为这能避免测量期间清洗样本的必要性。受保护试验池的使】用能允许测定所用液体或流体↘电容率测定。当采用一种或两种流体方法时，可能获得较大的精度，此时一种液体的电容率较接近匹配样本的电容率。
注4：当采用两种流体方∩法时，可由任一组读数▓获得耗散因子（其中采用具有较高Kf'的那组数据可获得较准确的耗散因子）。
介质损耗和介电常数是各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物质的一项重要的物理性质，通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究。
技术参数：
测量》范围及误差
在Cn＝100pFR4＝3183.2（Ω）（即10K/π）时_
测量项目 | 测量范围 | 测量误差 |
电容量Cx | 40pF--20000pF | ±0.5% Cx±2pF |
介质损耗tgδ | 0～1 | ±1.5％tgδx±1×10-4 |
在Cn＝100pFR4＝318.3（Ω）（即1K/π）时
测量项目 | 测量范围 | 测量误差 |
电容量Cx | 4pF--2000pF | ±0.5% Cx±2pF |
介质损耗tgδ | 0～0.1 | ±1.5％tgδx±1×10-4 |
Cx＝R4×Cn/R3
tgδ＝ω·Ｒ４·Ｃ４
高压电源技术特性
电压输出：0～2500V/50Hz
高压电流输出：0～20mA
内置标准电容器
电容量的名义值为100pF
tgδ小于5×10
-5
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