来自CRAIC的FLEX™是一款经济但功能齐全且配置灵活的仪器，采用最∑ 新的Lightblades™分光光度计，结合了紫外-可见-近红外√光学系统，数字成像◆系统和软件，采用模块化设计，使FLEX™成为一种强大而耐用的科学仪器，可以对微米级的】样品点进行无损的吸收、反射和荧光光谱测试。
凭借具有吸引力的价格，FLEX™显微分光光度↘计利用最新的测试技术，可以〇测量微观样品区域的紫外 - 可见 - 近红外范围透射率、吸光度、反射率、发射光谱和荧光光谱。当光谱正在被采集时，样品可以与高分辨率彩色数字成像系统或目镜同时成像『，另外的特征还▲可以包括测量微观样品的折射率以及微量测定和薄膜厚度测量。
FLEX™显微分光光度计的设计〗旨在以极具吸引力的价格提供优∑ 质的图像和光谱。
应用领域：
痕迹证据
法医药物化学
LED/ OLED彩色平板
半导体薄膜厚度
MEMS器件
表面等离子体共振
过程杂质】检测
蛋白质晶体
组合化学
FLEX™参数
| 光谱学类型 | 紫外-可见-近红外吸光度，反射率，荧光，光致发光，偏振 |
| 显微拉曼 | 可选ApolloII™ |
| 薄膜厚度 | ≥15nm |
| 微动力 | 可选 |
| 5DMapping | 可选 |
| 微比色法 | 可选 |
| 光谱范围 | 240-900nm |
| 成像范围 | 高分辨率彩色 |
| 荧光激发 | 365-546nm |
| 荧光发射 | 400-900nm |
| 探测◎器类型 | Lightblades™ |
| 探测器 | CCD和inGaAs阵列 |
| 探测〖器冷却 | TE制冷 |
| 光谱⊙分辨率 | 1-15nm |
| 采样面积 |
1-10000µm² |
