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                探测器光◥谱响应测试系统

                探测器光谱响应测试系统
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                详细说明

                  QTEST HIFINITY 5探测器光谱响应测试系统

                  Spectral Response / Quantum Efficiency / IPCE Measurement System

                探测器光谱响应测试系统

                  QTEST HIFINITY 5本设备为一体化设计,交钥匙工程,可以测试光电材料以及探测器的光谱响应,IPCE,量子效率等特性,具有多通道数据读取测试模式,能满足探测器,染料敏化△材料,钙钛矿材料光谱响应测量,符合IEC 60904-8,& ASTM E1021-(2001)测试标准。

                  规格参数:

                  测试光源:

                  光源波♀长覆盖范围:170~2500nm

                  光源:

                  氙灯光源,功率300W(使用寿命1000小时左右)。

                  单色仪:焦长:300mm

                  光谱●分辨率:0.05 nm。

                  光栅尺寸:68×68 mm。

                  光谱仪:

                  采用一体铸造成□型,非对称式CT结构设计。

                  三光栅塔座,软件切换光栅,扫描方式为在轴扫描。

                  光谱仪内部消像差设∮计,保证得到平场焦面。

                  杂散光抑制♀比:1.5×10E-5。

                  数值孔径:f/3.9

                  扫描速度:180nm/s。

                  线色散:2.38nm/mm。

                  波长准确性±0.01nm。

                  可重复性±0.04nm。

                  配置手动狭缝,狭缝开口10um~3mm。

                  电动滤光轮:

                  6位滤光轮,三个滤光片消除二级衍射

                  高度可调╳光阑组。

                  衰减片组≡和滤轮:功率0-3OD连续可调。

                  透镜组:

                  可将出射光汇聚,保证打在样品上的光的准直性。

                  分束镜,可将单㊣色仪出射的光分为两路,一路用来测量样品,一路用来测定功率。

                  功率计:

                  波长范围覆∏盖300~1200nm,包含№数据采集器。(数据溯源到▽美国NIST)

                  光敏面积面积:10×10mm&sup2;,不均匀度为千分之五附带证书。

                  反射︻镜具有Al+MgF镀膜,可保证200-2500nm具有很好∑的反射效率

                  系统重复误差:优于0.5%(使用标准探测器在半峰值范围内测量)

                  数据读取

                  电流灵敏度: 10 nA; 直流电压灵敏度:100 nV

                  样品载台:

                  可任意变★换放置姿态,实现入射光相对与样品由上至下▂,由下至上,水平入射等多种入射方式。样品电极〓接触的信号导出,如探针,鳄鱼夹,极板等多种方式组成,样品可采用负压吸々附装载,可适合各种有照光面与背光面电极≡的样品。功率计与样品之间的切换:含真空吸附功能。带4对探针,

                  品牌电脑、显示器:

                  Dell电脑、显示器。

                  操作、控制软件:

                  控制:自动扫描、电动狭缝、光栅更换、滤光轮控☆制、数据采集

                  数据:光谱校准、曲线绘制、数据分析、数据保存、打印报告

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