OptoTop High-precision 3D Profilometer
OptoTop是一项通过激光三角测量,对材料的几何概貌(宏观和微观)进行快速和非接触测量的光学表」面测量系统。通过OptoTop? 可以得到平坦的、粗糙的、及曲面的材料表面光学粗糙度的信息。另外,OptoTop? 还可以对材料表面进行3D的评估,从而找出结构上存在的▆潜在缺陷。
光学表面测量系统:用于在无接触方式下,测量表面轮廓,高复杂△的纳米,微米及宏观的几何结构,应用于研究与开发,入库检验,质量管〓理及不合格分析。
优点:
※ 简单方便的操作
※ 快速●的数据采集
※ 对各种样品,材料和涂装进行智能检测。
※ 线性轮廓的微粗糙度【值
※ 粗糙度值测试(构造–纹理分析)
※ 实现以2-D线性剖面显示,3-D显示表面轮廓及高度∴剖面
技术参数:
※ 感应器:色光式共轭焦
※ 测量范围Z*:300μm 1mm 2mm
※ 解析度Z*:12nm 25nm 75nm
※ 侧向解析度:1.55μm 2μm 4μm
※ 测量感应距离:11mm 12.7mm 16.4mm
※ 测量频率:30Hz,100Hz,300Hz,1kHz
※ 标准XY轴试验范围:60x60mm
※ 移动速度:0.1 ~ 10mm/s
※ 标准样品卐台大小:165x165mm或定制品
应用范围:
※ 对于平坦表面、有结构表面及弯曲表面的粗糙度及结构分析。
※ 测量宏※观和微观的几何结构,平面控制。
※ 表面控制,例如压花辊(选购配件:移动式装置)
Example:写字用纸
Example:结构性皮革(3-D轮廓)
Example:Freshel(佛氏聚光灯)镜片(3-D轮廓)