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                蔡司(ZEISS)高分辨率场发射扫描电镜∑IGMA 500/VP

                蔡司(ZEISS)高分辨率场发射扫描电镜∑IGMA 500/VP
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                详细说明

                蔡司(ZEISS)高分辨率场发射扫描电镜∑IGMA 500/VP

                详细描述:

                品牌:卡尔·蔡司

                型号:∑IGMA 500/VP

                制造商:德国卡尔蔡司公司

                经销商:欧波同有限公司

                【品牌故事】
                世界顶级光学品牌,可见光及电子光学的领导企业----德国蔡司公司始创于1846年。其电子光学前身为LEO(里奥),更早叫Cambridge(剑桥),积扫描电镜领域40多年及透射电镜领域60年的经验,ZEISS电子束技术在世界上创造了数个第一:

                第一台静电式透射电镜(1949)
                第一台商业化扫描电镜(1965)
                第一台数字化扫描电镜(1985)
                第一台场发射扫描电镜(1990)
                第一台带有成像滤波器的透射电镜(1992)
                第一台具█有Koehler照明的200kV场发射透射电镜(2003)
                第一台具有镜筒内校正Omega能量滤波器的场发射透射电镜(2003)

                CARL ZEISS以其前瞻性至臻完美的设计融合▆欧洲至上制造工艺造就了ㄨ该品牌在光电子领域无可撼动的王者地位。自成立至今,一直延续不断创△新的传统,公司拥有电←镜制造最核心最先进的专有技术,随着离子束技术和基于ㄨ电子束的分析技术的加入、是全球唯一为您提供钨灯丝扫描电镜、场发射扫描电镜、双束显微镜(FIB and SEM)、透射电子→显微镜等全系列解决方案的电镜制造企业。其产品的高性能、高质量、高可靠性◆和稳定性已得到全世界广大用户的信赖与认¤可。作为全球电镜标准缔造者的CARL ZEISS将一路领跑高端电镜市场为您开创探求纳米科技的崭新纪元。

                【总体描述】

                蔡司公司最新推出的Sigma 500/VP场发射扫描电镜采用成熟¤的GEMINI光学系统♀设计,分辨率超过0.8nm,为您提供最高分辨率和最佳分析性能科研平台。Sigma500/VP专注于一流的EDS几何学设计使您可以获取精湛々的分析性能。借助Sigma直观便捷的四步工作流程可以快速成像、简化分析程序、提高■工作效率。您会比以◥往更快、更多的获取数据。多种探测器的选择使Sigma500/VP可以精准的匹配您的应用程序:您可以获▼取微小粒子、表面、纳米结构、薄膜、涂层㊣和多层的图像信息。

                【技术参数】

                分辨率:0.8nm @15 kV 1.6 nm @1kV

                放大倍数:10-1,000,000×

                加速电压:调整范围:0.02-30 kV(无需减速≡模式实现)

                探针电流:4pA-20nA(40nA&100nA可选)

                低真空范围:2-133Pa(Sigma 500VP可用)

                样品室:358 mm(φ),270.5 mm(h)

                样品台:5轴优中心全自动

                X=125 mm(可选130mm)

                Y=125 mm(可选130mm)

                Z=50 mm

                T=-10o-90o

                R=360o连续

                系统控制:基于Windows 7的SmartSEM操作系统,可选鼠标、键盘、控制面板控】制

                【产品应用】

                扫描←电镜广泛用于材料科学(金属材料、非金属材料、纳米材料)、冶金、生物学、医学、半导体材料与器件、地质勘探、病虫害的防治、灾害(火灾、失效分析)鉴定、刑事侦察、宝石鉴定、工业生产中的产品质量鉴定及生产工艺控⊙制等。在№材料科学、金属材料、陶瓷材料半导体材料、化学材料等领域,进行材料〗的微观形貌、组织、成分分析。各种材料的形貌组织观察,材料断口分〒析和失效分析,材料实时微区成分分析,元素定量、定性成√分分析,快速的多元素面扫描和线扫描分布测量,晶体/晶@ 粒的相鉴定,晶粒尺寸、形状分析,晶体、晶粒取向测量。


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