技术参数
| 垂直系统 |
| TDS5032B/TDS5034B | TDS5052B/TDS5054B | TDS5104B | |
| 输入通道 | 2/4 | 2/4 | 4 |
| 模拟带宽(-3DB)5mV/div-1/div | 350 MHz | 500MHz | 1GHz |
| 计算上升时间5mV/div(典型值) | 1.15ns | 800ps | 300ps |
| 硬件带宽限制值 | 150MHz或20MHz | ||
| 输入藕合 | AC,DC,GND | ||
| 输入阻抗,1M Ω | ±1% | ||
| 输入阻抗 50 Ω | ±1% | ±1% | ±2.5% |
| 输入灵敏度 1M Ω | 1 mV/div 至 10 V/div | ||
| 输入灵敏度 50 Ω | 1 mV/div 至 1 V/div | ||
| 垂直分々辨率 | 8 位(平均后<11位) | ||
| 最大输入电压 1M Ω | 150 V CAT I, ≤400V峰值.超过200kHz以上时以20dB/+进制降低额定∞值至 9V RMS | ||
| 最大输入电压 50 Ω | 5V RMS ,峰值 < ±30V | 5V RMS ,峰值 < ±30V | <100 mV/div <1 V RMS |
| 直流增☉益精度 | 1.5%,偏置量设为0 V | ||
| 偏置范围 1MΩ | 1 mV/div -99.5 mV/div ±1V | ||
| 偏置范围 50 Ω | 1mV/div -99.5mV/div ±1V 100mV/div-1V/div±10V | 1mV/div99.5mV/div ±1V 100mV/div-1V/div±10V | 1mV/div -50mV/div ±0.5V 50.5 mV/div-99.5V/div±0.25V 100mV/div-500mV/div ±5V 505 mV/div-1V/div±2.5V |
| 相等垂直刻度设置上任意两条通道间的隔离 | ≤100MHz时为≥100:1,>100MHz 至额定带宽十为 ≥30:1 | ||
| 时基系统 | |
| 所有机型 | |
| 时基范围 | 200 ps/ 至 1000s/div |
| 时基延时范围 | (s/div x-10) 至 1000s |
| 通道间时间偏差校正范围 | ± 75 ns |
| 时基精度 | 15ppm |
| 时间变化量(Delta-time)测量精度 | (0.06/取样速率 + 15 ppm x|读数| RAM |
| 触发抖动(RMS) | 8ps RMS (典型值) |
| 采样率和延时的长期精度 | 在任何 ≥ 1 ms间隔上为 ± ppm |
| 捕获系统 | ||
| TDS5032B/5052B | TDS5034B/5054B/5104B | |
| 适时取速率 | --- | |
| 1 条通道(最大值) | 5 GS/S | 5 GS/S |
| 2 条通道(最大值) | 2.5 GS/s | 2.5 GS/s |
| 3-4 条通道(最大值) | -- | 1.25 GS/s |
| 等效时▽间取样速度(最大值) | 250 GS/s | 250 GS/s |
| 每条通道的最大∩记录长度(标准内存配置) | 8M/4M/-- | 8M/4M/2M |
| 选项 3M | 16M/8M/-- | 16M/8M/4M |
| 最高实时分辨率时的最大∞持续时间(1ch) | |
| 所有机型 | |
| 时间分辨率(单次) | 200 ps(5 GS/s) |
| 最大持续时间(标准内存配置) | 1.6 ms |
| 最大持续时间(选项3M) | 3.2 ms |
| 捕获方式 | |
| 所有机型 | |
| FastAcq 捕获技术 | FastAcq 捕获技术可优化仪器的动态信号分析和罕见事件捕获功能.最大FastAcq波形捕获速度为每秒100,000个波形 |
| 取样 | 捕获样值 |
| 峰值检测 | 在所有实时取样速率上捕获细毛刺(<1 ns) |
| 平均计算 | 从2至10,000个波形,包括在平均值内 |
| 包络 | 从2至2*10 9 个波形,包括在最小/最大包络内 |
| 高分辨率 | 实时矩形波串平均功能可减少随机燥声.提高分辨率 |
| 波形数据库 | 累计波形数据█库,以提供幅度,时间和记数的三维数组 |
| FastFrame 捕获技术 | 将捕获内存分段;最大触发速度率每秒>225.000个波形 |
