二次离子质谱概述
u 一定能量的离子打到固体表面会引起表面原◣子【、分子或原子团的二次发射，即离子溅射。溅射的粒子一般以中性为主，其中有一部分带ζ有正、负电荷，这就是二次离子。利用质量分析器接收分析二次离子就得到二次离子质谱。根据溅射的二次离子信号，可对被轰击样品的表面和内部元素及分布特征进行分析。
u 二次离子质谱仪主要用于材料学（半导体、薄层、绝缘材料等）、地质空间学、天体化学、环境微生物学和细胞学。
u 主要功能：
质谱分析-表面◣微区元素组成
痕量元素深度剖析
二次离子成像及显微图像分布（2＆3D）
稳定同位素丰度比
放射性颗粒分析
地质定年
大型二次离子质谱 IMS 1280-HR
u 针对地质领域和○环境科学分析专门而设计、注重原位分析
u 具有超高的灵敏度
u U-Pb地质学定年、稳定同位素分析、痕量元素以及放射性颗粒分析的最高水平ξ分析仪器
K/Ca dating: MR>30,000 (monocollection)
Rb/Sr dating: MR>20,000-40,000 (monocollection)
Mg & metal isotope ratios: MR>5000 (multicollection)
Li-U区间元素快高精确度同位素丰度比测量
大型二次离子质谱性能优势
u 灵活多用的多接受系统，尤其适于用于同位素分析。
u 两种具有反应活性的的一次离子源，在数据采集的同时可对其进行监控『。
u 具有高度再现能力的样品台。
u NMR高分辨磁场控制。
u 独有的图像↘功能。
u 完全计算机化自动工作，可远程监控。
u 通过加入「一个新的六极靴，对耦合→进行了重新设计，减少了轴上二次畸变。
u 多接受模式下，峰形得到很大的改善】。
u 优化了真空以降低背⊙底，有利于探测轻元素，氢化物。
在单接受模式以及高质量分辨率下，通过静电压跳峰，提高了稳定∞性。
