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                缺陷分析-超声波扫描显微镜(SAM)

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                详细说明
                缺陷分析-超声波扫描显微镜(SAM)

                声学显微镜,学名是:扫描声学显微镜Scanning Acoustic Microscope,简称SAM。它是基于声波脉冲反射和透射原理工作的,只要声波信号在样品表面或者内部遇到声波阻抗(如遇到孔隙、气泡等),就会发生反射。    

                SAM主要用于材料浅表层结构分◥析、材料力学性能的检测、无损检测等。

                A、 杂质颗粒、夹杂物、沉淀物等

                B、 裂纹

                C、 分层缺陷、附着物〗以及其他夹杂物

                D、 空洞、气泡、空隙等

                 

                SAM与X-RAY的主要区别□

                 

                SAM

                X-RAY

                成像模式

                反射模式和穿透模式

                穿透模式

                原理

                声波脉冲反射和透射

                基于材料密度的差异

                材料的穿透性

                密集和疏松的固体都◎能

                金属材料穿透较差

                 

                对空气的】敏感性

                空气能阻断超声波传输,确定焊╳接层、粘接层、填充层、涂镀层、结合层的完整是SAM独特◤的性能

                对空气不是非常敏感,裂纹虚焊等不能被观测到

                 

                材料的无损⌒ 性

                使用于MHz超声波,不会产生气▓穴,完全无损

                较长时间检≡测,可能会产生损坏和随机的▽电子错误

                所得图像

                可以分层展现材料内部一层一层的图像

                整个样品厚度的一个合□ 成图像

                仪器简介:德国KSI-SAM 

                一、1990年,世界上第一◣个做出频率超过GHz的超1990年,世界上第一个㊣做出频率超过GHz的超声波●扫描显微镜,到目前为

                止,其他同类仪器公司只能做到200MHz 左右;

                二,1991年,世界上第一个在超声波显微镜中做出GHz V(z), V(f)定¤量测量系统;

                三,1996年,推出世界上第一台数字超声波显微镜;

                四,1998年,世界上第一个做出带有球面透镜的√超声波换∩能器;

                五,2002年,世界上第一个在超声波显微镜上实现材料阻抗★测量;

                六,2004年,世界上第一个在超声◥波显微镜扫描控制平台中采用空气垫☆悬浮线性马达驱动的超▼高精度X-Y扫描系统;

                七,2004年,世界上第一◣个实现超声波显微镜自动对焦系统,并受到㊣专利保护;

                八,2004年,世界上第︻一个实现多探头同时扫描大件样品的超声波显微镜系△统,并受到专利保护。


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