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                自动绝对反射率∩测量系统

                自动绝对反射率测量系统
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                • 自动绝对反射率测量系统
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                详细说明
                自动绝对反射率测量系统自动绝对反射率测量系统

                概要

                  自动绝对反☆射率测量装置一边变化照到样品的入射角,一边测量反射率以及透过。用于太阳能电池零件,半导体,薄膜,光学元件等各种固体样品的分光特性ㄨ或者膜厚等的测量。入射角通过旋转样品台设定,受光角通过滑动积分球控制。另外,能用非同步方式分别设定入射角和受光角。而且,根据任意设定P偏光和S偏光角度,能研究样品的偏光特性。

                可选择用在紧凑的中型机种V-600系列紫」外可见近红外分光光度計上,也可以选择用在适合高分辨率,高㊣ 吸光度测量的V-7000系列紫外可见◢近红外分光光度计上。

                装置特点

                ?PC直接控制设定角★度及光谱测量等条件
                ?测量范围△广,从紫ξ外到近红外区域
                ?双光束光学①系统,测光稳定性好
                ?可分别控制入射角、受光角
                ?标配偏光◆测量功能
                ?专用的样品池支架,样∴品的装卸简单

                规格

                ARMV-734/ARMN-735 自动绝对反射测量组件V-600用)

                型号

                ARMV-734

                ARMN-735

                测定波长范围

                250~850nm

                250~2000nm

                测量方式

                测卐量绝对反射率、测量透过率╲

                入射角

                5°~ 60°(测量绝〖对反射率)、0°~ 60°(测量透过) 0 ~ 85℃(大入射角样品支架、选项)

                角度间隔

                0.1°间隔

                设定方式

                同期、非同期(入射部和受光部←)

                测量偏光

                S 偏光( 0°)、P 偏光( 90°)、N 偏光( 45°)、任意设定

                ※ARMV-734用于V-650,660、ARMN-735用于V-670。



                VAR-7010/7020/7030 自动绝对反射测量组件V-7000用)

                型号

                VAR-7010

                VAR-7020

                VAR-7030

                测量波长范围

                250~900nm

                250~2000nm

                250~1800nm

                测定方式

                测量绝对反射率、测量透过率

                入射角

                5°~ 60°(测量绝对反射率)、0°~ 60°(测量透过) 0 ~ 85℃(大入射角样品支架、选项)

                角度間隔

                0.1°间隔

                设定方式

                同期、非同期(入射部和受光部)

                测量偏光

                S 偏光( 0°)、P 偏光( 90°)、N 偏光( 45°)

                ※VAR-7010用于V-7100、VAR-7020用于V-7200、 VAR-7030用于V-7300。


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