X荧光光谱仪,手提式光谱仪,手持式光谱仪
X-MET5000 手持式 X 射线荧光光谱仪←专为以下应用而设计：
材料可靠性鉴定(PMI)
金属鉴定/废旧金属分拣
合金分析及有害物质分析（RoHS筛选）
受污染土壤【重金属分析及采矿现场矿石分析
玩具中含铅筛选
涂料中铅检测
X-MET5000(手持式XRF元素〇分析仪) 牛津仪器推出了新款手持式X射线荧光光谱仪， 可满足各种苛刻的元素分析要求。
牛津仪器宣布推出一款坚固的手持式X射线荧光光谱仪(XRF) — X-MET5000，该仪器能够进行高精度、高可靠性的元素分析。牛津仪器的手持式X射线荧光光谱仪誉满全▆球，X-MET5000是其第四代№产品。
这款全新的光谱仪拥有高性能和高可靠性，它综合了牛津仪器的PentaFET专利探测器技术，能够保证所有用户感△兴趣的元素均得到⊙快速分析，并且提供更低的元素检测下限。 这款光谱仪专门为各种ㄨ最严格的质量控制应用而设计，例如金属废料回收利用、合金分类鉴定以及玩具和消费产品的含铅量检测结果是否符合RoHS指令要求。此外，X-MET5000还能满足采矿□ 业的需求，也可在环境监测行业中用于测定土壤中的重金属含量。
X-MET5000的主要←优势就在于其轻元素处理 (LET) 模式，此模式可允许对重金属进行快速、准确◆的分析——即使样品中存在铝和硅等轻元素，仍不会影响其分析结果。而其他普通分析仪由于】只使用“基本参数（FP）法”，根本无法分析由于轻元素的存在对最终的分析结果卐造成的干扰。
这款坚固、可靠的工具通过了IP54 (NEMA 3)认证，具备卓越的防水々防尘性能。X-MET5000是恶劣应用环境的理想选择。该仪器所配备的电池可持续使用一个工作日，从而提高了工作效率。
其强大的用户自定义软件能够提供准确◥的分析结果，从而提高了“合格/不合格”决定的可◥靠性。X-MET5000能够识别材料类型，并自动选择最佳分析方法。
借助于其可选配的台式支架，可免除执行多分析任务时的手工操作，同时又不会令测量结⊙果的置信水平受到任▲何影响。
废旧金属回收
由于现今金属价格高涨，特别是镍(Ni)为代表的几类金属，企业要在现代废▼旧金属回收行业中获得收益，合金成▂分的精确鉴定起到至关重要的作用。X-MET5000能够快速、精确地鉴定镍的成分，即使其含≡量低于1%。这款仪器可以同时加载金属分析和塑胶分析的程序，满足日益发展的废料回收业的需求。另外，对贵金属的分析也可通过这款仪器得以实现。
X-MET5000 的主々要优势就在于其轻元素处理 (LET) 模式，此模式可允许对重金属进行快速、准确的分析--即使样品中存在铝和硅等轻元素，仍不会影响其分析结果。而其他普通分析仪由于ξ 只使用"基本参数（FP）法"，根本无法分析由于轻元素的存在对最终№的分析结果造成的干扰。
合金分类
这是一款深受鉴定机关青睐的多用途工具，专门为各种最严格的质量控制应用而设计，例如"材料可靠性鉴定"（PMI）、流体加速腐蚀测试等。
对准样品即可进行分析
5秒内完成304/321或CPTi/Ti-7牌号鉴定
可对管缝、焊缝的耐蚀性以及压力容器的合金进行分析
可在数秒内鉴定直径小于1毫米的管线
可测量表面温度高达400℃的物体
RoHS
X-MET5000可⌒ 以为塑胶、印刷线路板、电缆、塑胶外壳、焊料、紧固件、金属薄片和其他电子元器』件提供快速、无损、"对准即测"的筛选分析。
RoHS等指令限制电子和电气产品中铅、汞、镉、六价铬、多∮溴联苯和多溴联苯醚（溴的化合物）的含量。这些指令要求★对所有电子设备中使用的√材料和零部件进行检测，这对电子产品制造厂商和全球供应链产生了很大的影响。X-MET5000采用IEC 62321标准中所规定的测试方法，能■够非常便捷有效地筛选样品中的相关受限物质的含量是否能够满足RoHS指令的相关要求。
航空、医学、军事∮等属于这些指令的豁免行业，用X-MET5000可以确保其产品部件中含有足够量的铅，特别是在镀层♂和焊接件中足够的铅含量能够保证产品的安╱全性和可靠性。X-MET5000还可以在数秒内分拣出塑料制品中的聚氯乙烯≡、溴或锑的含量，以符合废旧电子和电气设备回收（WEEE）指令的要求。
其强大的用户自定义软件能够提供准确的︻分析结果，从而提高了"合格/不合格"决定的可靠々性。X-MET5000 能够识别材料类型，并自动选择最佳分析方法。
借助于其可选配的台式支架，可免除执行多分析任务时的手工操作，同时又不会令测量◥结果的置信水平受到任何影响。
矿石
这款拥有牛津仪器 PentaFET专利探测器技术的仪器，保证了对矿山现场勘探过程中用户所感兴趣的元素均得到快速分◥析，并且提供更低的元素检测下限。
X-MET5000可直接测试岩芯样品，也可以为后续的精确实验室测试筛选样品。多元素矿石可以通过这款仪器得到有效可靠♀的分析。友好用户界面的经验系数法校准软件可以直接分析现场样＠ 品，而通用的基本参数法分析模式可以分析无已知标样的矿石样品。20秒内即可获取分析结果--其强大的用户自定义软件能够提供准确的▂分析结果，从而提高了"Go/No-Go"决定的可靠性◆。
