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                Nanotrac Wave纳米粒度仪(Nanotrac Wave)

                Nanotrac Wave纳米粒度仪(Nanotrac Wave)
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                Nanotrac Wave
                上海
                详细说明


                主要技术特点:

                • 采用最新的动态光散射技术,引入能普概念代替传统光子相关光谱法
                • 专利的异相多谱勒频移技术,较之传统的方法,获得光信号强度高出几个数量级,提高分析结果的可靠性。
                • 专利的可控参比方法(CRM),能精细分析多谱勒频移产生的能谱,确保分析的灵敏度。
                • 超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计,减少了多重散射现象的干扰,保证高浓度溶液中纳米颗粒测试的准确性。
                • 专利的快速傅利叶变换算法(FFT,Fast Fourier Transform Algorithm Method),迅速处理检测系统获得的能谱,缩短分析时间。
                • 消除多种空间位阻对散射光信号的干扰,诸如光路中不同光学元器件间传输的损失,样品池位置不同带来的误差,比色皿器壁的ㄨ折射与污染,分散介质的影响,多重№散射的衰减等,提高灵敏度

                技术参数:
                粒度分析范围: 0.8nm-6.5µm
                重现性: 误差≤1%
                浓度范围: ppb-40%
                检测角度: 180°
                分析时间: 30-120秒
                准确性: 全量程米氏理论及非球形颗【粒校正因子
                测量精度: 无需预选,依据→实际测量结果,自动生成单峰/多峰分布结果
                理论设▽计温度: 0-90℃,可以进行程序升温或降温
                兼容性: 兼容任何有机卐溶剂及大多数酸性或碱性溶液
                测量原理: 粒度测量:动态光背散射技术和全量程米氏理论处理
                分子量测量:水力直径或德拜曲线
                专利技术:膜电极,微电场◥电势测量,“Y”型光纤探针设计,异相多普勒频移,可控参比方法,快速∮傅立叶转换算法,非球形颗粒校正因子
                光学系统: 3mW780nm半导体固定位置激光器ㄨ,通过梯度步进光纤直接照射样品,在固定位置用硅光二极管接受背散射光信号,无需校正♂光路
                软件系统: 先进的Microtrac FLEX软件提供强大的数据◥处理能力,包括图形,数据输出/输入,个性化输出报告,及各种◥文字处理功能,如PDF格式输出, Internet共享数据,Microsoft Access格式(OLE)等。体积,数量,面积及光强分布,包括积分/微分百分比和其他分析统计数据。数据的〗完整性符合≡21 CFR PART 11安全要求,包括口』令保护,电子签名和指定授权等。
                外部环境: 电源要求:90-240VAC,5A,50/60Hz
                环境要求:温度,10-40°C
                相对湿度:小于95%
                配置: 有内置和外置光纤测量探头可选

                 

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