创新点
1. 最新动态光背散射技术,引入能谱概念,180°检测异相多普勒频率变化,稳定性好,重现性高,实为传统光子相关光谱方法的最佳替代品。
2. 专利膜电极设计,准确测量颗粒电泳速度
3. 先进的“Y型”光纤光路系统,精确聚焦蓝宝石测量窗口,有效消除杂散光对检测器的负面影响。无需比色皿,毛细管电泳池或外加电极池,测量同一体系的Zeta电位,避免样品交叉污染与浓度变化。
4. 专利的异相多谱勒频移(Heterodyne Doppler Frequency Shifts)技术,较之传统的光子相卐关光谱分析方法,获得颗粒散射光信号的强度高出几个数量级,提高分析结果々的可靠性
5. 专利的可控参比方♂法(CRM,Controlled Reference Method),能精细分析多谱勒频移产生的能谱,确保分◤析的灵敏度
技术参数
粒度范围:0.8纳米- 6.5微米
Zeta 电位测量:+/- 125mv
电泳迁移:+/- 0.4 μs/volt/cm
重复性:误差小于1%(标准颗粒)
测量原理:动态光背散射技术及米氏理论
专利技术:HDF,CRM,FFT,“Y”型光纤光路设计,“非球形”颗粒校正选ぷ项,微电场设计技术
检测角度:180o
浓度范围:0.1ppm – 40wt%
分析时间:30-120 秒
光源:3mW 780nm 半导体光纤
样品体积:0.2 - 5ml
操作软件:兼容Windows 98, 2000, NT, XP, Vista等
国际标准:ISO 13321
环境温度:10oC to 35oC
相对湿度:小于90%
主要特点
﹡ 专利的异相多谱勒频移(Heterodyne Doppler Frequency Shifts)技术,比较传统的多谱勒∩频
移分析方法,获得颗粒散射信◤号的强度高出几个数量级,提高分析结果的可靠性
﹡ 专利的可控参比方法(CRM, Controlled Reference Method),能精细分析多谱勒频移产生的能
谱,确保◥分析的灵敏度
﹡ 超短的颗粒在悬◣浮液中的散射光程设计,避免了多重散射现象,保证〖高浓度溶液中纳米颗粒测
试的准确性
﹡ 先进的“Y型”光纤光路系统,精确聚焦蓝宝石测量窗口,有效消除杂散光对检测器的负面影响
﹡ 专利的快速傅利叶变换√算法(FFT,Fast Fourier Transform Algorithm Method),迅速处理检
测系统获得的●光谱,缩短分析时间
﹡ 首家引进“非球形”颗粒概念对米氏理论计算的校正因素,内置常用分¤析物质光学数据库,提
高颗粒粒度分布测试的准确性
﹡ 符合甚至ξ部分超过ISO 13321 激光粒度分析国际标准-纳米分♂析部分
﹡ 符合甚至部分超过21 CFR PART 11 安全要求及FDA标准
仪器介绍
30多年来,Microtrac 公司一直致力于激光散射技术在▓颗粒粒度ぷ分布中的应用。作为行业的先锋,早在1990年,纳米颗粒分析仪器,NPA首次引入由于颗粒在悬浮体系中】的布朗运动而产生的能谱概念,利用背散射(Back-scattered)和异相多谱㊣勒频移(Heterodyne Doppler Frequency Shifts)技术,结合动态光散射理论和先进的数◤学处理模型,取代传统的光子相关光谱(PCS,Photon Correlation Spectroscopy)方法,将分析范围为延伸至0.003-6.5μm。随着技术■的发展,Microtrac 公司不断完善其麾下的专业颗粒分析仪器,快速分析高浓度的纳米颗粒,生化材↑料及胶体体系成为现实,成为众多行︻业纳米分析的参考仪器。
应用领域:
有机聚和物和高分子研究,纳米金属和其他纳米无机物,结晶分析,表面活性剂胶束大♂小,蛋白质,甾体,DNA,RNA,极稀浓度或不宜稀释高浓度的样品分析。