技术规格:
参 数 |
特 性 |
备 注 |
探测器型号 |
双片SONY ILX511B |
|
光学平台 |
CT-F/4-101 |
|
波长测试范围 |
320nm-1100nm (ILX511B) |
特殊范围用户可定制 |
波长带宽 |
2nm/(50um狭缝和600线光栅) |
配合不同有光栅和狭缝可实现0.2nm-5nm带宽调节 |
波长准确度 |
±0.3nm |
|
波长重现性 |
±0.1 nm |
波长温度漂移0.4nm/10度 |
杂散光 |
0.02 % 以下 (220 nm,NaI) |
|
噪声水平 |
小于0.0003 Abs |
|
吸光度测试范围 |
0.0003-4.0 (ILX511B) |
|
线性度 |
0.1% |
|
测试速度 |
积分时间+10.0ms |
完成一帧数据采集和相关的卐色度算法 |
积分时间 |
0.4ms-500ms(ILX511B) |
|
动态比 |
50000:1(ILX511B) |
|
接口及供电 |
USB 2.0/480M |
|