Fischerscope ? X-RAY XAN X射线荧光光谱仪
一、仪器介绍：
德国FISCHER制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过17年的经验。材料分析和镀层厚度测量，FISCHERSCOPE X-RAY XAN是一款适用于大批量材料分析的X-射线光谱仪。范围从铝(Z=13)到铀(Z=92) ，使得FISCHERSCOPE? X-RAY XAN? 的应用范围延伸至从工业到科学领域。无论分析应用于冶金上的，地质上的，石化上的还是其它种类的材料，FISCHERSCOPE? X-RAY XAN? 都是一款强ㄨ有力的和经济的光谱仪。
FISCHER公司的X射线仪器具有其独特的特点。内置的彩色视频头使得X-射线光束快速和精确地定位于被测工件上需要分析的范←围。该仪器所提供的性能和特征的集合是在同样价格范围内的材料分析仪中无法找寻到的。
独一无二的WinFTM?V.3或WinFTM V.6软件是仪器的核心。它是可以使仪器在没有→标准片校准并保证一定测量精度的情况下测量复杂的镀层系统，同时可以对包含多达24种元素的材料↓进行分析(使用WinFTM?V.6软件)。
二、应用：
典型的应用范围如下：
单一镀层：Zn，Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等；
二元合▲金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金等；三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金等；
双镀层：例如Au/Ni/Cu、Cr/Ni/Cu、Au/Ag/Ni、Sn/Cu/Brass等；
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe；
最多24种镀层(使用WinFTM V.6软件)；
最小测量面积有效对焦范围2mm；XY移动范『围不适用Z-轴不适用，
光学对焦；可至测量台上2mm距离测量室尺寸320mm×460mm×90mm测量室大容量，配备固定及可更换的样品支架对焦方式利用旋钮视觉对焦放大倍数光学：34-184×；数字：分级放大1、2、3、4×；总倍数：34-184×
应用范围：材料分析和镀层厚度测量，范围从铝(Z=13)到铀(Z=92)特点:操作容易、快速、手动定位样品。配备多种准直器，确保有高强度讯号。
标准软件WinFTM?V.6；PDM测量方向由下而上X射线管微焦距；可加Ni和Al滤片；
可编程节能功准直器4个圆形准直器；0.2mm/0.6mm/1mm/2mm软件控制，马达调节0.3mm
四、技术规ㄨ格表：
测量头图〓片; 初级X-射线测量方向 ( ˉ )
典型特征 超快数字脉冲处理器；测量台固定
测量头外部尺寸 宽?380 mm深576 mm高340 mm
测量箱有效内部尺寸 包含测量门斜面部分的尺寸：宽 = 318 mm; 深 = 307 mm; 高 = 29 至 86 mm
仅包含完整高度部分的尺寸(高：86 mm)：宽 = 318 mm; 深 = 203 mm; 高 = 86 mm?
测量⊙头设计 完全关闭，向上开启，金属测量门
测量头重量 约 42 kg
测量台设计 透明及可更换薄膜的嵌入式固定式支撑台，用于X-射线光束的自由通过和测量点的查看
测量台载入和工件定位 工件直接放置在支撑台上通过影像手动定位
测量头按键 2 个按键：Start，stop
测量台最大工件重量 2 kg
测量点的影像控制 高分辨率的彩色摄像头，专利的光学路径设计使得具有独特的测量点垂直查看；WinFTM?主窗口的画中画查看功能；实际测量点的影像尺寸（不是视准器的尺寸）带有与实际尺寸相一致的十字线刻度和测量点尺寸指示，这样就可以精确定位，在任何测量距︻离下测量点和测量位置都可以获得与实际尺寸相一致的影像显示。通过影像屏幕上的控制条可以进行亮度控制
图像放大倍率 光学：20x至45x；附加数字分级放大倍率1x, 2x, 3x 4x；数据传输至17”TFT-显示器
测量▲点聚焦 转动把手进行光学聚焦
测量距离修正方法 专利的DCM-方法 (Distance Controlled Measurement距离控制测量) 允许工件表面凹陷处的测量，该↓方法适用于整个Md-范围(参见“测量距离”/有效聚焦范围”)。测量值根据测试点聚焦后的测量距离Md 进行数学修正。
可用聚焦范围测量距离 Md 测量距离 Md (校准过的范围)：? 0 mm ≤ Md ≤ 22 mm测量距离 Md (未校准过的范围)：22 mm ≤ Md ≤ 25 mm
X-射线高压 可调节至最优应用：10 kV; 30 kV; 50 kV.可靠的高压发生器：连续测量时，高压发生器严格控制电压和X-射线阳极电流在限制的范围之内以保证高稳定性。由于高超的散热设计，足够的容量空间，即使在连续测量时也可以持续以最高性能产生高压。
X-射线管 带铍窗口的微聚焦钨管。可设定的能源节省功能
初级滤波器
位置号 1) 镍；2) 空气；3) 铝 (厚)；4) 铝 (薄)；5) 钛；6) 钼
可以使用一个选定的初级滤波器，由软件控制。初级滤波器的使用使得初级辐射可以调节，这意味着可以达到尽可能小的测量不确定性。初级频谱的变化可以通过高压的设定和初级滤波器的选择来达到。这样的话，可以对任何测量应用设定最适宜的激发条件。
视准器测量点尺寸 可编程的，电机控◢制的4个视准器尺寸： ? 0.2 mm, ? 0.6 mm, ? 1 mm, ? 2 mm
在 Md= 0 mm时： 大约各自比视准器直径★大10 % 左右
探测器 Si-PIN-二极管; Peltier-冷却 (约 -30°C). 无须液氮冷却
能量分辨率(Mn-Kα) 180 eV [ FWHM ] “Full Wave at Half Maximum”
脉冲处理器 超快数字式脉ζ冲处理器
最大脉冲率[imp./秒] 约100,000;该数据表示了处理器可以处理的作为信号输入的最大脉冲率 (计数率)
控制计算机 个人电脑 FMC-XPENT：Intel 奔腾或类似ζ　处理器，帧捕捉板，硬盘，CD-ROM，3 1/2"软驱，Windows键盘XK，可选：条形码阅读器（订货号603-678）
操作系统 标准：?WindowsXP 专业版；（可选:?Windows2000）
软件 标准: WinFTMV.6 BASIC + PDM可选: WinFTMV.6 BASIC + PDM + SUPER参见WinFTMV.6技术规格表以了解完整的软件特性 (订货号952-049)。
显示器 标准: 17"纯平 TFT显示器可选: 19"纯平TFT显示器(订货号603-798).都可用于画中画工件查看和数据显示
打印机 可选:?EPSON 彩色喷墨打印机 (订货号 602-555)
附件 纯元素标准块，工具，连接电缆和其它小的附件
电源 115 – 230V；50 – 60Hz
电源功率 最大120 W (仅指测量头，不带电脑主机和显示器)
用途 镀层厚度测量和材料分析
测量方法 采用ASTM B 568, DIN EN ISO3497和DIN50987标准的能量分散X射线荧光法（ED-XRF）
元素范围 铝 (Z=13) to 铀 (Z=92)
X-射线安全性 全防护型仪器，设计符合德国 X-射线法规§4Abs. 3, Anlage 2.3 R?V；无须用户配备专门的辐射安全人员。
仪器的服务 HELMUT FISCHER拥有全球服务网络
应用服务 解答应用问题，Def.MA数据创建，例如：用户特殊应用▆的参数设定等
X-射线培训 一年几次的培训及研讨会，传递关于X-射线荧光方法和X-射线仪器实际应用的信息