双模式三维形貌仪
特点：一台设备上集成非接触式白光干涉形貌仪+高精度原子力显微镜
白光干涉
白光干涉能够进行高分辨率图像的扫描，对表面进行分析。两种工作模式-相移和白光扫描模式,能够高精度测量粗糙或者光滑的样品表面。
• 最好〖的技术来实现高Z向分辨率
• 白光干涉法和相移两种模式实现Z方向的高∞分辨率。
• 快速图像处理系统达到400万像素
• 四色LED相机
• 更大的垂直测量范围达10毫米
• 150 mmx150mm马达控制平台。
• 样品粗糙度，粗糙表『面高度抛光后的光洁度以及表面结构测量，如陶瓷、塑料和辊钢。
• SPIP专⌒ 业数据分析软件
原子力显微镜
探针式轮廓测量能够进行材料在纳米尺度水平的▼测试。提供扫描范围70 x70um，探针更换ㄨ简单。
• 最好的技术来实现Z和XY方↓向上的高分辨率
• X,Y和Z方向上纳米级◥的分辨率和精度。
• 线性XY压电陶瓷扫描
• 包ぷ括振动和不振动的模式
• 可选的侧向力和相位模成像
