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品 牌:
SYSCOS
产品型号:
LE-M5
所在地区:
上海
详细说明
特色
自动Excel(或PDF报表)全天候数据监控
多角度量测
可预先定义简洁的操作模式供工程师使用
微光斑
测试结果的图形反馈
技术规格
波长:632.8nm
光学模式:PSCA模式
ψ、△精度:0.001°、0.01° (90° 时50次测量标准差)
长时稳定性:TanPsi= ±0.005;CosDel= ±0.005(90°超过1小时的测量)
膜厚精度:1 Åfor 100 nm SiO
2
on Si
折射率精度:5x10
-4
for 100 nm SiO
2
on Si
光斑:20 µm
步进角:55° - 90°;步进值5°
数据库:各种电介质、薄膜、晶体及非晶半◆导体、金属等的NK文件(数万种)
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