技术参数 1.温度范围:室温-1100OC或1600OC |
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主要特点 1.平行支架超微量天平、内置砝码全自动校准 |
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仪器介绍 TGA是在程序控制温度下,测量样品的质量随温度或时间变化而变化的技术。DTA(差热分析)测量的是随温度或时间变化而变化的样品与参比的温差。TGA/SDTA851e以始终领先于世界的梅特勒-托利多天平技术,独一无二的FlexCal(柔性校准)专利,采用独特的ζ 水平测试炉单坩埚设计,可在测量样品重量变化的同时测量样品的差热变化(称为同步差热即SDTA),并且可把SDTA转换为同步DSC,得到焓变值。 |