CRAIC 20/20™ 显微分光光度计系统，是CRAIC公司的最新型号，结合显微学和光谱学的优势，用于微小样品或样品的微小区域的光谱←和色度分析，并通过对样品的反射、透射、荧光及偏振光谱测量，完成微量物证分析。具有科研级高分辨检测器(CCD)，半导体制冷检测器，增强稳定性；科研级光学接口，高分辨彩★色成像系统。WIDOWS操作系统，应用软件使用简单，操作方便。
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20/20PVTM技术参数 |
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光谱范围 |
200-900nm |
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NIR选项 |
可扩展到2100nm |
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成像 |
深〓紫外到近红外 |
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荧光光谱范围 |
300-1000nm |
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荧光激发 |
254-546nm |
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采样面积 |
1-10000µm2 |
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光谱分辨率≡ |
1-15nm可调 |
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检测器 |
CCD和InGaAs排列 |
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检测器♂制冷 |
半导体 |
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扫描时间(全光谱) |
4ms |
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高分辨率彩色▲成像 |
包括 |
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紫外-可见-近红外成像 |
可选高达6百万像素 |
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制图可⊙编程 |
可选 |
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全自动 |
可选 |
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操作系统 |
Window 7 Pro |
注：北京昊特伟业科技有限公司为美国CRAIC公司中〒国代表处，如有产品采购、技术支持及售后服务问题均可与我们联系，400服务热线：4008 863 973.
