一分彩

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                X-射线【荧光镀层测厚仪

                X-射╳线荧光镀层测厚仪
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                12 (Fischer-XULM)
                杜美分析仪器(上海)有限公司
                上海
                详细说明

                X-射线荧光镀层测厚仪

                技术参数

                1.Fischerscope X-RAY XULM-XYm是采用根据技术标准DIN50987,ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法;
                2.原始射线从下至上;
                3.微聚焦X-射线管高压设定可调节至最佳的应用:50kV,40kV或30kV;
                4.视准器组:圆直径为0.1/0.2;正方形0.05X0..05mm;长方形0.03X0.2mm
                5.测量箱外部尺寸:(高×宽×深)480 mm×375 mm×580 mm,重量大约为45kg;
                6.带槽箱体的内部尺寸:(高×宽×深)240 mm×360 mm×460mm)带向上回转箱门;
                7.手动X-Y工作台(平面板:360 mm宽×240 mm深),带50 mm的X方向和50 mm的Y方向运行,
                8.试件查看用标准的彩色摄像机;
                9.测量开始/结束按钮,及LED状态指示灯与测试箱集成在一体。


                主要特点

                FISCHERSCOPE® XUL®设计为X-射线管和』探测器系统位于测量台下部。因此测量方向从下往上。这也就提供了一个重要的优点,尤其对于测量各种不同几何外形的小工件,或各种各样的线路板、引线框架以及电连接器的微小部位测量
                。在绝大多数∏情况下,被测试工件的表面々可直接放置于测量台上,这就避免了在从▲上往下测量系统中需要的测量◣距离调整。测试点会☆自动地调整在正确的距离上。这就加快了测量的过程并且避免了由于工↓件定位不佳可能造成的测量误差。- FISCHE是唯一一家实现了这种设计的X-射线荧光镀层厚度测试仪器的制造厂商。

                与WinFTM® V.6 软件及校样标准块Gold Assay配合,XUL® 作为FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分,可以完美地适应于快速,非破坏性和精确的测量珠宝及贵金属中金的成分。

                XULM使用了高能量的X射线管,即便是测量微小◇面积时也能有很强的X射线照射到被测样品上,以保证测量的精确度。


                仪器介绍

                适用于Windows®2000或选择适用于Windows® XP的真Win32位程序带在线帮助功能 
                频谱库中允许创建从元素钛至铀的任Ψ 何一种新的应用 
                能通过“应用工具♂箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化 
                画中画测试件查看和『数据显示,带快速移动焦距功能放大试件图像;计算机生成的刻度化的瞄准十字星,并有X-射线光束大小指示器(光束的大小取决于测量的距离) 
                图形化的用户界面,测试件的图像显示可插入于测试报告中 
                测量模式用于: 
                单、双及三层镀层系统 
                双▆元及三元合金镀层的分析和厚度测量 
                双层镀层,其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析(两层的厚度和合金成分都能被测量) 
                能分析多达四种金属成分的合金和电镀液中金属离子含量; 
                可编程的应用项图标,用于快速应用项选择 
                完整的统计功能,SPC图,标准的概率图和◆矩形图评估 
                报告生成,数据输出 
                语言可选择:英语,德语,法语,意大利语,西班牙语,及中文 
                菜单中的某些选择项可授权使用 

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