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                X射线能谱仪

                X射线能谱仪
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                4 (QUANTAX系列 )
                德国布鲁克AXS北京代表处
                北京
                详细说明

                X射线能谱仪X射线能谱仪

                技术参数

                QUANTAX系列探测器种类:
                1) UHV Devar Si(Li) 液氮制冷探测器
                2) XFlash® SDD硅漂移探测器


                1.UHV Devar Si(Li)液氮制冷探测器

                * 采用独特的UHV Devar technology,这使得它的绝热效果非常好,因而具有很少的液氮消耗量,同时也很好的杜绝了↘窗口部分可能出现的冷凝现象。
                * 优秀的真空质量也同时可以有效地保护探测器晶体,从而保证探测器能够长期稳定高效地工作。
                * 与普通的Si(Li)探测器相比,UHV Devar探测器「还具有体积小(3.8L)、重量轻以及制冷快的特点。
                * 探测器具有最佳的能量分辨率(≤129eV)。
                * 采用QUANTAX SLEW超轻元素窗口,可以从硼元素(5)测起。另外还有具有优良的高温稳定性和化学稳定性的窗口可供选择。
                * 轻元素窗口使探测器能够从B元素开始测起。
                * 具有优良的工作稳定性。
                * 可以保证探测器晶体零污染。


                2.XFlash SDD硅漂移探测器―――开创一个新纪元

                * 具有无液氮、高分辨率、高输出计数率∞三大特点。
                * Xflash® 是首个商用的SDD探测器,布鲁克ASX公司是SDD技术领域的领跑ω 者,现在已经发展到第四代,目前在世界范围内拥有大量的用户。
                * 采用二级Peltier效应的电致冷方式保证探测器长期稳定工作,而不需要任何制冷剂和外部制冷设备,同时也避免了其他机械制冷方式可能引起的振动。
                * Xflash® 的能量分辨率指标在1000cps~150,000cps的输↙入计数条件下,可以保持在(Mn元素分辨率≤125eV,F元素分辨率≤58eV,C元素分辨率≤48eV),这一革命性的125ev的分辨率使Xflash® SDD探测器在轻元素的探测和定量分析方面具有显著的优势。
                * 即使是在高的输入计数率情况下,Xflash® 仍然具有很高的分辨率,因此在进行面扫描时,采用Xflash® 比采用常规的Si(Li)探测器节省几个量级的时间。
                * 绝对无振动,具有低的维护和操作费用,体积小、重量轻。
                * 采用混合脉冲信号处理器使得Xflash® SDD探测器达到更高的计数率。系统速度是使用数字脉冲信号处理器的常规的Si(Li)探测器的十倍。


                3.ESPRIT分析软件界面友好,操作简便

                * 具有基于P/B(ZAF)方法的无标样定量分析功能并可对粗糙、颗粒等不同表面形貌样品进行分析。
                * ESPRIT分析软件具有最丰富的原子信息数据库,这可以大大提◆高仪器的元素鉴别能力和重峰分离能力,使得定量成分分析变得更加精确可靠。
                * 可以根据韧致辐射的物理模型计算背底,OLeQ分析功能可大大提高对轻元素定量分析的准确性。
                * 提供¤更快速和准确的实时线扫描和面扫描分析功能,对元素种类和数目无限制并可达到65536种颜色的面扫描效果。


                QUANTAX系列探测器的接口都是单独定制的,因此可以适用于各种型号和品牌的电子显微镜,并且能够最优化立体角和取出角。


                主要特点


                仪器介绍

                X射线显微分析是一种在电子显微镜中用到的测量固体样品、薄膜、微粒化学成分的分析技术。应用一种能量色散X射线光谱仪(EDS)能同时探测和分析低至B的所有元素分析。从一个只有几微米的样品获得元素信息,提供质量百分数的十分之一的相对检出限,使得X射线显微分析成为最灵敏的分析方法之一。

                布鲁克 AXS显微分析部门推出的新的EDS系统的QUANTAX 系列对于广泛的应用领域能提供可靠的结果,其测量速度是空前的,并且测量准确、容易操作。
                我们独有的不用液氮冷却的XFlash® 硅漂移探测器(SDD)与顶级的Hybrid 脉冲处理技术相结合能获得最佳的能量分辨率和比常规Si(Li)探测器快十倍的测量速度。
                QUANTAX 配有界面○友好、功能强大的新的ESPRIT软件。进行无标样分析,进行与标准相关的定量分析,或二种方法的结合,ESPRIT软件为各种应用提供最佳的工具。
                 
                如果你〗需要X射线显微分析的宣传资料,请联系我们索取信息。



                QUANTAX是可应用各种SEM和TEM的能量色散X射线显微分析仪器。

                为适应各种分析任⌒ 务和应用环境,QUANTAX 有几个档次和各种选件可供选择。各种水平的QUANTAX 系统都有最佳的定性分析和真正的无标样定量分析方法。对于一些专门的分析任务,可选用基于Φ(ρ, z)的定量分析包。
                直观的用户界面、灵活的项目管理≡包、报告的快速或完整的生成,独特的ESPRIT软件为用户提供了直观而简单的操作工具,也为专业用户提供了很多功能强大的选项。
                不管你使用带液氮冷却的Si(Li)探测器,还是使用不用液氮的具有创新的SDD技术的 XFlash 探测器,或者在一台仪器上使用多个探测器,我们的X射线探测器能提供最好的可靠性和测量性能。



                QUANTAX ESPRIT软件包

                现代的图形用户界面显示了所有的对分析者而言重要的信息,分析人员一眼▂就可以看到,并可以立即进入最常用的功能。有几种显示模式,如总览、全屏显示。 
                简单的操作理念和直观的向导,集成的 "助手"功能,完整的@在线帮助,使初学者能很快熟悉分析系统。
                分析软件的高效性、灵活性和透明性使用户能很快信服并々满意这个软件。交互式、循序渐进式的光谱评估程序对分析有ξ 很大帮助,尤其是非常复杂的分析任务。
                布鲁克 AXS 显微分析公司第一个在工业上应用了最近修订扩展的原子数据库,一些重要的基本参数有助于♀提高定性和定量分析的精度。

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