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光学薄膜厚度测量仪
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产品型号:
ST2000-DLXn
制造厂商:
广州德润仪器科技有限公司
所在地区:
广东
详细说明
详细介绍
本仪器是把UV-Vis光照在测量对象上,利用从测量对象中反射出来的光线测量膜的厚度的产品。
这种产品主要用于研究开发或生产导电体薄膜现场,特别在半导体及有关LCD行业中作为检测仪器使用。
技术参数:
测量范围
0.02um~ 35um(根据膜的类型)
光斑尺寸
0.002um
测量速度
1~2 sec./site
应用领域
聚合体: PVA, PET, PP, PR
半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS
电解质:SiO
2
, ITO,ZrO
2
,Si
3
N
4
,Tio
2
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