研究开发出日本第一台荧光x射线镀层厚度测量仪SFT-155经过20多年的努力。现在的荧光x射线镀层厚度测量仪能够正确的测量微小面积的镀层厚度。已为全世界电子另部件；印刷电路版；汽车另部件；各种电镀产品生产及相关厂商所谻同。从此。“SFT"“XRF"几乎成为镀层厚度测量仪的代名豤。本公司是美国热电在中国和香港地区的代理和售后维①修服务中心。
X射线测厚仪 特征 ：
1可■测量电镀；蒸镀 离子镀等各种金属镀层的厚度。
2可通过CCD摄相机来观察及选择微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量。避免直接接触或破坏被测物。
3备有250个以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。
