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一 主要用途:
用来测量激光等离子体产生的硬X光能谱，硬X光总能量、
电子温度和超热电子温度的诊断。
二 技术指标：
谱仪内部均匀安装两层铅屏蔽准直体
每层厚度不小于50mm
中心有激光准直系统，靶点瞄准精度±3mm
中心法兰安装端面法线与准直激光
光轴的夹角和复位精度好于0.1°
每个探测器安装端面中心法线对心精度好于0.1°
真空漏率小于等于1×10-5Pa·L/S
三 系统组成：
本设备主要由波纹管组件、真空室管道、铅屏蔽准直体、
三维调节支架、主台架、铅屏蔽室、探测器前端屏蔽系统、
荧光片组件、前后滤波片组件等组成。
