AW－PCM半导体参数在片测试软件的主要特点：
◆由Allwin21公司自行研制开发，自主版权。
◆AW-PCM系统可以测试几乎所有的有源器件、所有的无源器件和一些集成电路参数，并内置了所有有源器件和无源器件的所有测试程序和先进的PCM测试方法。
◆AW-PCM测试软件可以兼容点测和扫描分析测试等多种测试模式。
◆AW-PCM实现了工艺参数管理功能。从测试数据中可以方便地得到各种数据统计情况，便于生成SPC数据和Cp、Cpk数据。
◆AW-PCM软件采取了先进的数据存储格式，工艺线交互使用和系统升级非常便利。
◆通过对测试数→据的统计分析，实现了工艺参数分析和反馈，并可实时“失效分析”。
◆与AW-CIM中心∏管理模块相结合，测试数据可以得到更好地分析、管理。并可以对关键工艺步骤进行联网控制。
◆器↙件建模非常便利。
◆系统的测试速度快。
南京奥威主要∏从事PCM测试相关软件的开发和工艺线系统集成，公司同时可◣为客户提供EG1034/2001/2010，WENTWORTH MP2020等探针台，HP/Agilent公司的HP4062UX/HP4142B/HP4145/HP4084/HP4085/HP4275A/HP4280/HP8772 测试仪和Keithley公司S900A/S280/S350测试仪，STS 310/PTI 790/Oxford 80 等离子体增强化学气相淀积设备，STS 320/ PTI 790/PTI 730/xford100反应离子刻蚀设备和STS ICP/ PTI ICP/ Oxford ICP电感耦合等离子体刻蚀等各类进口半导体仪器々、设备及备品备件、软件升级开发和相关售后服务工作。公司一贯以高质量的产卐品、优质的服务、合理的价格来满足◇各类客户需求。
欲了解详情，请登陆我公司网站 http:// www.allwin21.cn。
