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                X荧光测硫仪 SPECTROSCAN-SL

                X荧光测硫仪 SPECTROSCAN-SL
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                • X荧光测硫仪 SPECTROSCAN-SL
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                俄罗斯对外电子公司北京代表处
                北京
                详细说明

                X荧光测硫仪 SPECTROSCAN-SL
                 

                技术参数
                1.检出限 (3σ) :0.0003% (3 ppm)
                定量检测下线: 0.001% (10 ppm)
                2.两次平行测◇定时间 1min
                3.样品杯容积 8 cm3
                4.光谱单元外形尺寸和重量 335x310x160mm, 8kg
                5.供电要求 交电220V 50Hz 100W
                 
                主要特点
                1. 样』品杯处于X-射线管侧面位置,因此不需要附加保护膜防护检测器
                2. 实际定量检测下线为7ppm,很轻松的满足能量色散的标准ISO 20847-2004
                3. 虽然是能量色散的技术,但是从10ppm以上符合要求苛刻的波长色散的标准 ASTM D 2622-98
                4. 例:10ppm 标样,平行测量20次,标准偏差为1.9ppm,两次平行测量最ㄨ大
                相差为5ppm,ASTM D 2622-98在10ppm含量时要求 5ppm
                 
                仪器介绍  
                俄罗斯SPECTRON公司是前苏△联最大的X射线荧光光谱♀仪生产厂家。X荧光测硫仪是按照俄罗斯石化行业要求开发的,目前占用俄罗斯№石化行业市场的50%以上〗并且迅速替代其它品牌的X荧光测硫仪。



                测定程序简介

                操作⌒ 人员需完成的步骤:

                 通↓过键盘输入样品名

                 把待分析样品置于样品杯,用3微米薄膜卐覆盖

                 把样品杯置于样品室,开始检测



                自动完成的步骤:

                 样品中硫含量◥的计算和显示屏上的显示

                 根据ISO 5725计算两次平行测定之差Δ值

                 比较所♂得结果和ASTM D 4294-98规定Δ值

                 打印分析报告(日期、操作人员、样品名、硫含量、Δ值)



                     国际标准            方法              测量范围要求①   本公司仪器型号

                ASTM D 4294-98    能量色散◥型X射线荧光○谱法】 (EDX)   100ppm<   SPECTROSCAN-S

                ASTM D 2622-98,   波长→色散型X射线荧光『谱法 (WDX)     3ppm<        SPECTROSCAN-GV

                ASTM D 7039-04

                ISO 20847-2004    能量色散型X射线荧光谱法】 (EDX)    30ppm<        SPECTROSCAN-S

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