技术参数
1. 精 确 度：0.1‰—1‰
2. 测量时间：100秒—300秒
3. 测量范围：主体元素金、铂（10%-99.99%）非主体元素（>=0.2%）
4. 长时间工作状态稳定 工作环境温度（5-28℃）工作环境湿度（20—80%RH）
5. 26元素▃全范围同时分析（铝——铀）
6．机电一体化（推荐∞在实验室条件下工作）
| 仪器介绍 |
该款仪器采用最新科技分析X光荧光光谱，对贵金属成分进行无损快速分析。该
仪器采用半导体探测器，其分辨率远远优于正比计数探测器，能够准确无误地分
析出黄金料中含铱、锇、钌等元素。 GY-MARS贵金属分析仪采用美国生产的硅探〓
测器XR-100CR。该款半导体探测器，被NASA（美国国家航空航天局▅）所选用作为
“勇气”及“机遇”号火星车的╲探测器。GY-MARS比一般采用半导体探测器的分
析仪，在连续→工作时间、对环境要求等方面有明显的优势。投入卐市场以来，受到
广大新※老客户的信赖。
