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                X荧√光能谱仪

                X荧光能谱仪
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                上海德赛国际贸易有限公司
                上海
                详细说明

                X荧光能谱仪

                技术参数

                探测器配置

                ●高灵敏电制冷Si(Li)探测器々技术,仪器免维护和零费用运行,寿命达15年以上(可选用:液氮Si(Li) 探测器)
                ●极高的分辨率: 电制冷Si(Li) 探测器 晶体面积15mm2 分辨率<155ev
                (可选用: 液 氮Si(Li) 探测器 晶体面积30mm2 分辨率<149ev)
                ●超大Si(Li) 晶体,极高〗的痕量分析的灵敏度,打破lng的检测限壁垒X-光管
                ●50KV,50瓦,超强流端◇窗X-射线管,具有超强束流。高稳定,寿命可达15年以上
                ●多滤光片技ㄨ术,8位滤光片可根据分析对象元∮素,有效探测.可清晰分△辨相邻
                元素

                数据采集

                ● 全数字脉冲ㄨ处理器技术,死时间达60%,以及优异的峰背№比,极大的提高分析速度及精度
                ● 采用多道(32位4096道)脉冲分↓析器,极大的提高分析╱精度及其速度

                其他

                ● 超大样品室,可容纳305mm×389mm×66mm的样品(增高』室可选215mm或371mm)
                ● 全自动校准,自动监测,自⌒ 动报警系统,完全计算机控制
                ● 镀层和薄卐膜测量技术, 具有无标样分析测厚▽技术
                ● 方便快捷的运输和移动
                ● 高性能,操作简便WinTrace软件


                主要特点

                ● 分析元素≡范围 Na-U
                ● 分析元素的浓度范围 ppm—100%
                ● 整⊙机稳定性连续8小时测RSD<0.25%
                ● 高级FP无标样▲分析软件,无标样条件下误差小于1%。减▂少对标样的依赖性
                ● ROHS/WEEE检测时间100-120秒
                ● 样品类型: 固体,液体,粉末,滤渣,镀层及其他


                ARL QUANT'X 荧光能谱仪(EDXRF)  应对ROHS/WEEE检测绿色采购最佳帮手々
                ARL QUANT'X 能量色散X-荧光光谱仪(EDXRF)是最新的元素分析仪,是为实验室
                和工厂制造环境下满足绝大多数分析设计的,其强大的功能和灵活性对于许多元
                素分析应用是不可缺少的。有了ARL QUANT'X,就不必在为元素的范围、分析性
                能、样品类型、分析便︼捷或可靠性担忧了。

                ARL QUANT'X 应用领域:

                ●  应对RoHS & WEEE 指令分析  
                ●  各种金属膜厚度测量、工业镀层厚度测量
                ●  气溶√胶颗粒滤膜, 刑侦以及痕量分析
                ●  土壤、催化剂、矿石、原材料成份分析◢等
                ●  营养添加剂 ,各种油品成份分析等
                ●  磁性磁性介质和半ξ导体,各种合金、贵金属成份分析

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