主要特点

组合式□多功能X射▃线衍射仪D/max-Ultima III系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。
可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料
可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品
主要的应用有：
1. 粉末样品的物相定性与定量分析
2. 计算结晶化度、晶粒大小
3. 确定晶系、晶粒大小与畸变
4. Rietveld结构分析
5. 薄◆膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗▲糙度，电荷密度
6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
7. 小角散射与纳米材料粒径分布
8. 微区样品的分析

技术参数

1. X射线发生器功率为3KW
2. 测角※仪为水平测角仪
3. 测角仪最小步进为1/10000度
4. 测角仪配程序式可▽变狭缝
5. 单色器包括弯曲晶体及平面↘晶体状态
6. CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学独有）
7. 小角散射测试组件
8. 多用途薄膜测试〓组件
9. 微区测试组件
10. In-Plane测试组件（理学独有）
11. 高速◥探测器D/teX-25
12. X射线衍射-差示扫描量热◢仪同时测量装置 XRD-DSC
13. 分析软件包括：JADE软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包