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仪器介绍
CMI 900 系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量▲仪器,可应用于材料的涂/镀层 厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供准确、快速▓的分析.基于WindowsXP