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                教育装备采购网首页 > 知识产权 > 专利 > CN302422433S
                
            
                
                
                
                    
                
                        

                        
                        
                    
                
                
                
            
                
        
                
        
                
            
                
                
                X荧〓光分析仪（1）
                
                
                
                
                
                    
                　　摘要：1．本外观设计产品的名称：X荧光分析仪（1）；2．本外观设计产品的用途：X荧光分析仪；3．本外观设计的设计要点：在于产品的↑形状；4．最能表明设计要点的图片或者照片：在于主视图；5．后视图无设计要点，故省略。
                
                    
                    
                  
                        
                • 专利类型外观专利
                  • 
                        
                • 申请人南京大展机电技术研究所;
                  • 
                        
                • 发明人陶银武;
                  • 
                        
                • 地址211102 江苏省南京市江宁区清水亭◇西路2号百家湖科▓技产业园B区16-2
                  • 
                        
                • 申请号CN201230619073.0
                  • 
                        
                • 申请时间2012年12月11日
                  • 
                        
                • 申请公布号CN302422433S
                  • 
                        
                • 申请Ψ 公布时间2013年05月01日
                  • 
                        
                • 分类号10-05;
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