摘要：1．本外观设计产品的名称：X射线荧光光谱仪。2．本外观设计产品的用途：用于获得试〖样X射线光谱，并测量谱线的位置和强度。3．本外观设计的设计要点：形状。4．最能表明设计要点的图片或者照片：立体图。
- 专利类型外观专利
- 申请人深圳市禾苗分析仪器有限公司;
- 发明人杨宁波;
- 地址518000 广东省深圳市南山区南头关口二路智恒战略性新兴产业园（原安乐工业区综合楼）27栋2楼B
- 申请号CN201230366441.5
- 申请时间2012年08月06日
- 申请公布号CN302307417S
- 申请公布时间2013年01月30日
- 分类号10-05;
