摘要：本实用新型涉及几何计量测试技术领域，具体公开了一种高分辨力双轴自准直仪。该系统中反光镜对物＠ 镜后组的水平光线反射，射入分光棱镜B及分光棱镜A，并在分光棱镜A的垂直光线通路上设有水平准直分划板、水平聚光镜及水平LED光源，分光棱镜A反射的水平光线通路上设有显微物镜B和垂直安装的第二线阵CCD；分光棱镜B反射的水平光线通路上设有分光棱镜C、显微物镜A以及水平安装的第一线阵CCD，且在分光棱镜C垂直水平面的反射光线通路上依次安装有垂直准直分划板、垂直聚光镜以及垂直LED光源。该系统采用物镜前组和物镜后组，减小准直光路长度，使准直光路长度小于物镜焦距；采用折叠光路的反射镜，使光学◥系统的长度尺寸不增加。
- 专利类型实用新型
- 申请人北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院;
- 发明人王震;张俊杰;张忠武;李永刚;孙方金;
- 地址100076 北京市丰台区大红门路1号
- 申请号CN201220432506.6
- 申请时间2012年08月28日
- 申请公布号CN202814358U
- 申请公布时间2013年03月20日
- 分类号G01B11/26(2006.01)I;
