摘要：本实用新型涉及一种√用于测量半导体发光器件结温和热阻等热性能参数的半导体发光器件热性能测量装置。其可与被测试件相配合，它包括光测量装置和温控装置，与光测量装置、温控装置电连接的电驱动、测量电路，光测量装置和温控装置呈上下布置，电驱动、测量电路可与被测试件电连接。本实用新型具有的有益效果：1.光测量装置和温控装置呈上下布置，在装置上取☆放半导体发光器件时◥，可调节光测量装置和温控装置相对位置，操作简单方便；2.光电测量仪能准确测量光度量、辐射度量等光╱参数；3.散热器的结构合理，工作时对流环境♂良好，散热效果好；4.设置有定』位测量装置，用于检测光测量装置与温控装置的相对位置，避〓免操作异常现象的出现。
- 专利类型实用新型
- 申请人杭州浙大三色仪器有限公司;
- 发明人牟同升;
- 地址310013浙∏江省杭州市西溪路525号浙大科技园G楼浙大三色
- 申请号CN200720303012.7
- 申请时间2007年12月05日
- 申请公布号CN201110883Y
- 申请公布时间2008年09月03日
- 分类号G01R31/265(2006.01);
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