摘要：本发明公开了悬←浮体系中颗粒物比表面积的测试方法，包括以下步骤：(1)对溶剂进行╲核磁共振检测，用金属浴来控制溶剂的温度，对溶剂进行CPMG脉冲序列测试，测得溶剂的T2弛豫时间，计算溶剂弛豫率R2f；(2)将颗粒物样品置于溶剂中得到含有颗粒物的悬浮液；(3)对步骤(2)中含有颗粒物样品的悬浮液进行核磁共振检测，用金属浴来控制悬浮液的温度，对悬浮液进行CPMG脉冲序列测试，测得颗粒物样品的T2弛豫时间，根据公式计算悬浮液的平均弛豫率R2＝PbR2b+PfR2f；(4)根据以下公式计算①颗粒物的比表面积：Sa＝(R2sp＊R2f)/(Ψ＊Kp)。本发明提供的悬浮体系中颗粒物比表面积的测试方法，能够测试颗粒物在悬浮状态下的比表面积。
- 专利类型发明专利
- 申请人上海纽迈电子科技有限公司;
- 发明人杨培强;高杨文;杨翼;后慧云;陈琳;
- 地址200333 上海市普陀区天地软件园中江路879号1座A308室
- 申请号CN201610383608.6
- 申请时间2016年06月02日
- 申请公布号CN105866159A
- 申请公布时间2016年08月17日
- 分类号G01N24/08(2006.01)I;
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京公『网安备11010802043465号
