摘要：本发←明公开了一种表面测量方法、装置及系统，该方法包括：将刀具移动』到待测量部件的待检测表面的基准点的位置，根据基准点建立三维坐标系得到基准点的坐标；确定待检测表面上的多个待检测位置，将刀具分别移动到待检测位置的正上方；移动探针以使针尖接触到待检测表面，移动刀具以◥使刀尖接触到待检测位置，在针尖和刀尖均接触到待检测表面时形成闭合回路，产∮生触发信号；分别获取触发信号产生时待检测位置相对于基准点在㊣z轴上的高度，结合基准点的z轴坐々标得到待检测位置在z轴上的坐标；利用各待检测位ξ 置在x、y以及z轴上的坐标值得到待检测表面的函数；利用函数得到待检测表面各点的位置坐标，实现对待检测◆表面的测量。
- 专利类型发明专利
- 申请人湖南科瑞特科技股份有限公司;
- 发明人张宏立;阙正湘;
- 地址410000 湖南省长沙市高新区麓谷大道627号新长海麓谷中心第2栋二楼
- 申请号CN201610293153.9
- 申请时间2016年05月05日
- 申请公布号∮CN105806195A
- 申√请公布时间2016年07月27日
- 分类号G01B5/28(2006.01)I;
